[发明专利]用于传感器数据校准的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201610926545.4 申请日: 2016-10-31
公开(公告)号: CN108020800A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 王萌;乔智勇;刘贺飞 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 代理人: 迟军
地址: 日本东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 传感器 数据 校准 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于传感器数据校准的方法,所述方法包括:

传感器数据获得步骤,用于获得来自磁力计的传感器数据;

磁环境改变检测步骤,用于通过比较由传感器数据生成的至少两个数据组之间的差,来检测磁环境改变;

传感器数据选择步骤,用于基于磁环境改变检测,选择针对当前磁环境的传感器数据;

校准参数计算步骤,用于基于所选择的针对当前磁环境的传感器数据,计算校准参数;

传感器数据校准步骤,用于利用校准参数对所选择的传感器数据进行校准。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述磁环境改变检测步骤包括:

针对各个数据组计算系数集合;

计算系数集合之间的差;

将所述差与预定义阈值进行比较以确定磁环境改变。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,利用曲线拟合方法来计算所述系数集合。

4.根据权利要求2所述的方法,其中,所述系数集合至少包括数据组的中心、半径或转动角度。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述系数集合之间的差是以下项目中的至少一者:

a)中心的差;

b)半径的差;

c)转动角度的差。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述中心的差是由数据组的所有中心计算出的中心、与数据组的各个中心之间的距离。

7.根据权利要求5所述的方法,其中,所述中心的差是数据组的各个中心之间的距离。

8.根据权利要求5所述的方法,其中,所述半径的差是数据组的半径的方差或标准偏差。

9.根据权利要求5所述的方法,其中,所述转动角度的差是数据组的转动角度的方差或标准偏差。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述传感器数据选择步骤包括:

回溯步骤,用于回溯当前传感器数据,以寻找针对当前环境的校准数据。

11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述回溯步骤包括:

从当前磁环境选择最新传感器数据的一部分作为保留数据;

从保留数据去除最旧的数据;

利用保留数据检测磁环境改变;

在磁环境无改变的情况下,选择保留数据作为当前磁环境中的校准数据。

12.根据权利要求10所述的方法,其中,所述传感器数据选择步骤还包括:

传感器数据收集步骤,用于收集多于预定义数量的、用于计算校准参数的校准数据。

13.一种用于传感器数据校准的装置,所述装置包括:

获得单元,其被构造为获得来自磁力计的传感器数据;

磁环境改变检测单元,其被构造为通过比较由传感器数据生成的至少两个数据组之间的差,来检测磁环境改变;

传感器数据选择单元,其被构造为基于磁环境改变检测,选择针对当前磁环境的传感器数据;

校准参数计算单元,其被构造为基于所选择的针对当前磁环境的传感器数据,计算校准参数;

传感器数据校准单元,其被构造为利用校准参数对所选择的传感器数据进行校准。

14.根据权利要求13所述的装置,其中,所述磁环境改变检测单元包括:

被构造为针对各个数据组计算系数集合的单元;

被构造为计算系数集合之间的差的单元;

被构造为将所述差与预定义阈值进行比较以确定磁环境改变的单元。

15.根据权利要求14所述的装置,其中,所述系数集合至少包括数据组的中心、半径或转动角度。

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