[发明专利]一种MIPI回路的测试方法及测试系统有效
申请号: | 201610920767.5 | 申请日: | 2016-10-21 |
公开(公告)号: | CN107977290B | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 耿阿囡 | 申请(专利权)人: | 炬芯科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 朱佳 |
地址: | 519085 广东省珠海市唐*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mipi 回路 测试 方法 系统 | ||
本发明公开了一种MIPI回路的测试方法及测试系统,用于降低测试成本、提高测试效率。该方法为:第一测试端通过预留的配置端口,基于数据类型信息和第二协议信息,将预设测试数据配置成测试数据包,并通过预选MIPI通道信息对应的MIPI通道,按照预选测试速率,将测试数据包发送至第二测试端;指示端基于测试数据包的接收情况、解析情况和匹配情况,判断MIPI回路是否存在异常。这样,实现了第一测试端和第二测试端的对接测试,无需外接转换芯片,节省了MIPI回路测试成本,提高了MIPI回路测试准确度。
技术领域
本发明涉及多媒体芯片技术领域,尤其涉及一种MIPI回路的测试方法及测试系统。
背景技术
目前,大多数便携式多媒体芯片系统(System on a Chip,SOC)中,均包含显示串行接口(Display Serial Interface,DSI)传输端和/或相机串行接口(Camera SerialInterface-2,CSI-2)接收端。其中,MIPI DSI传输端用于驱动DSI显示屏,MIPI CSI-2接收端用于连接相机Camera。虽然,MIPI DSI传输端采用的DSI协议和MIPI CSI-2接收端采用的CSI-2协议均属于移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface,MIPI)协议,且MIPI DSI传输端和MIPI CSI-2接收端采用的物理层(Physical Layer,D-PHY)标准相同,但是,由于MIPI DSI传输端采用的DSI协议和MIPI CSI-2接收端采用的CSI-2协议存在一定的区别,MIPI CSI-2接收端无法接收MIPI DSI传输端发送的高速数据,所以,在对SOC进行测试时,MIPI DSI传输端和MIPI CSI-2接收端不能直接进行对接测试,只能对MIPIDSI传输端和MIPI CSI-2接收端进行分别测试。
现有技术中,通常利用外接转换芯片,分别对MIPI DSI传输端和MIPI CSI-2接收端进行测试。即在对MIPI DSI传输端进行测试时,通常采用的方法是:先通过外接转换芯片,将MIPI DSI传输端输出的信号转换成RGB信号等,再通过现场可编程逻辑门阵列(FieldProgrammable Gate Array,FPGA)等进行接收,最后,再通过比对发送数据和接收数据的方式,来判断MIPI DSI传输端中的传输通道是否存在正常;在对MIPI CSI-2接收端进行测试时,通常采用的方法是:先通过外接转换芯片,将高速数据转换成CSI-2信号,再经过MIPICSI-2接收端进行接收,最后,再通过比对发送数据和接收数据的方式,来判断MIPI CSI-2接收端中的传输通道是否存在正常。
基于上述分析,目前的SOC数据通道测试方案均需要采用外接转换芯片才能实现测试,不仅测试成本较高,而且,由于每条数据通道的传输速率在80Mbps到1Gbps,D-PHY V1.1版本的传输速率已将其提升到1.5Gbps,所以,上述利用外接转换芯片进行测试的测试方案会由于外接转换芯片和FPGA性能的限制,导致测试效果较差,比如:当外接转换芯片和FPGA的性能较低时,可能测试不到最大工作场合。除此之外,由于数据通道一般有1到N条(N一般为4),且存在多种数据的传输格式,所以,利用外接转换芯片进行测试时,并不能灵活的测试不同的应用场景。也就是说,现有技术中的SOC测试方法存在测试成本高、测试效果差、灵活性差的问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种MIPI回路的测试方法及测试系统,用以解决现有技术中的MIPI回路测试方法存在测试成本高、测试效果差和灵活性差的问题。
本发明实施例提供的具体技术方案如下:
一种MIPI回路的测试方法,用于在不外接转换芯片的情况下,对支持第一协议的第一测试端和支持第二协议的第二测试端进行MIPI回路测试,其中,上述第一协议和上述第二协议是具有相同物理层协议的不同协议,上述测试方法包括:
第一测试端接收以测试指令形式发送的预选数据格式对应的数据类型信息、第二协议信息、预选MIPI通道信息和预选测试速率;
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