[发明专利]一种连续窄脉冲的脉宽测量方法及系统有效
申请号: | 201610907941.2 | 申请日: | 2016-10-18 |
公开(公告)号: | CN106656114B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 杨叶飞 | 申请(专利权)人: | 上海华虹计通智能系统股份有限公司 |
主分类号: | H03K5/05 | 分类号: | H03K5/05 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 200335 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 连续 脉冲 测量方法 系统 | ||
本发明公开了一种连续窄脉冲的脉宽测量方法及系统,包括:将待测连续窄脉冲的信号与预设固有周期的辅助宽脉冲信号进行逻辑运算后合成为第三脉冲信号;利用第一计数器根据所述时钟信号对合成后的所述第三脉冲信号进行计数,参考第三脉冲信号对应的时钟周期的个数,得到第一计数值;利用第二计数器根据时钟信号对所述预设固有周期的辅助宽脉冲信号进行计数,参考参与逻辑运算的辅助宽脉冲信号对应的时钟周期的个数,得到第二计数值;利用第三计数器对参与逻辑运算的待测连续窄脉冲信号的脉冲数进行统计,得到待测连续窄脉冲数;根据所述时钟信号的时钟周期结合第一计数值、第二计数值、以及待测连续窄脉冲数,获取所述待测的连续窄脉冲信号的脉宽。
技术领域
本发明涉及信号检测领域,特别是涉及一种连续窄脉冲的脉宽测量方法及系统。
背景技术
在半导体电路制造中,相当一部分成本花在这类电路的测试上,为检测出影响电路工作特性的制造或设计缺陷,测试是非常必要的。例如,多个半导体电路,比如动态随机存取存储器,采用内部发生的脉冲来传递信息。不同的脉冲宽度传递不同的信息。因为脉冲能控制电路的各种功能,故希望测试电路以保证电路产生的所有脉冲宽度正常。
但是,对于窄的连续脉宽(即脉宽宽度小于采样时钟)一直没有较好的手段,即使转换成电流,电压也需要复杂的模拟电路,同时无法测试非周期性的连续脉宽;当需要测量的脉宽宽度小于采样时钟时,无法直接采样的方式得到待测连续窄脉冲信号;影响工作效率,增加测试成本。
发明内容
本发明的提供了一种连续窄脉冲的脉宽测量方法及系统,其目的是通过逻辑数学运算将待测连续窄脉冲信号转换为成采样时钟信号,将窄小不易采集的脉宽转换成长时间振荡的时钟信号,增大了时钟信号的分辨率,使检测更加方便。
本发明提供的技术方案如下:
一种连续窄脉冲的脉宽测量方法,所述待测连续窄脉冲的每一单脉冲的脉宽相等、并小于时钟信号的脉宽,包括:步骤S10将待测连续窄脉冲的信号与预设固有周期的辅助宽脉冲信号进行逻辑运算后合成为第三脉冲信号;步骤S20利用第一计数器根据所述时钟信号对合成后的所述第三脉冲信号进行计数,参考所述第三脉冲信号对应的时钟周期的个数,得到第一计数值;步骤S30利用第二计数器根据所述时钟信号对所述预设固有周期的辅助宽脉冲信号进行计数,参考参与逻辑运算的所述辅助宽脉冲信号对应的时钟周期的个数,得到第二计数值;步骤S40利用第三计数器对参与逻辑运算的所述待测连续窄脉冲信号的脉冲数进行统计,得到待测连续窄脉冲数;步骤S50根据所述时钟信号的时钟周期结合所述第一计数值、所述第二计数值、以及所述待测连续窄脉冲数,获取所述待测的连续窄脉冲信号的脉宽。
在本发明中,通过逻辑数学运算将待测连续窄脉冲信号转换为成采样时钟信号,将窄小不易采集的脉宽转换成长时间振荡时钟信号,增大了时钟信号的分辨率,使检测更加方便。
优选的,所述待测连续窄脉冲信号的脉冲间隔时间是相等、或不等时长,脉冲数为有限个数。
优选的,包括:所述步骤S10和/或S40中:
参与逻辑运算的所述待测连续窄脉冲信号,包含Nm个脉冲,Nm为自然数,自首个脉冲的上升沿开始、至末个脉冲下降沿结束;
所述步骤S10和/或S30中:
参与逻辑运算的所述辅助宽脉冲信号包含N0个完整的周期,N0为自然数,并且首周期早于或等于待测连续窄脉冲开始、尾周期晚于或等于待测连续窄脉冲结束。
优选的,包括:所述待测连续窄脉冲信号是脉冲间隔时间相等时长,脉冲数为无限个数的周期性窄脉冲信号。
优选的,包括:所述步骤S10/S30中:
参与逻辑运算的所述辅助宽脉冲信号包含N0个完整的周期,N0为自然数,自首周期的上升沿/下降沿开始、至尾周期上升沿/下降沿的结束;
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