[发明专利]自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法

说明书

本发明公开了一种自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，测量模块具有多个测试群组和控制单元。每一个测试群组具有多个测试通道，每一个测试群组中的每一个测试通道具有通道控制单元及时间测量单元。通道控制单元电性连接时间测量单元，且通道控制单元依据触发信号提供测试信号至时间测量单元，使时间测量单元依据测试信号测量待测信号的时序。待测信号关联于测试通道电性连接的待测物。控制单元电性连接测试群组，并依据选择信号指定的测试群组，产生触发信号给测试群组中的每一个测试通道。

技术领域

本发明关于一种自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，特别是可以一次性地触发同一测试群组中的测试通道进行时序测量的群组化时间测量模块及其方法。

背景技术

集成电路元件在出厂前必须经过自动测试设备(Automatic Testing Equipment，ATE)进行多种电气测试，以确定集成电路元件的使用功能及品质。而时间测量模块是自动测试设备中的一个测量项目，主要以多个时间测量单元(Time measurement init)来测量待测集成电路元件的信号频率、传输延迟、建立/保持时间(setup/hold time)、上升时间(rise time)、下降时间(falltime)及工作周期(duty cycle)，以取得待测集成电路元件的运作时序、待测物两个事件(event)发生之间的间隔时间、计算事件发生的个数或其他测试结果。

然而，现有的自动测试设备中，当以具有时间测量单元的测试通道(channels)来对待测集成电路元件进行时序测量时，每一个测试通道的时间测量单元都需要被设定一次检测内容，且于开始进行时序测量时，每一个测试通道亦必须分别被触发以开始进行测量，例如自动测试设备要使4个测试通道进行时序测量时，总共至少要设定4次检测内容及执行4次触发。如此一来，现有的自动测试设备在设定和触发开始测量上必须耗费许多的设定时间和执行多道触发程序。

发明内容

本发明在于提供一种自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，藉以解决现有的自动测试设备耗费设定时间和触发程序繁多的问题。

本发明所揭露的自动测试设备的群组化时间测量模块，具有多个测试群组和控制单元。每一个测试群组包含多个测试通道，每一个测试群组中的每一个测试通道具有通道控制单元及时间测量单元。通道控制单元电性连接时间测量单元。通道控制单元依据触发信号提供测试信号至时间测量单元，使时间测量单元依据测试信号测量待测信号的时序。待测信号关联于测试通道电性连接的待测物。控制单元电性连接测试群组，并依据选择信号，产生触发信号至其中至少一个测试群组中的每一个测试通道。选择信号指定其中一个测试群组进行时序测量。

本发明所揭露的自动测试设备的群组化时间测量方法，具有依据选择信号，指定多个测试群组其中至少一个进行时序测量，每一个测试群组具有多个测试通道，且每一个测试通道具有时间测量单元。被指定的测试群组中的每一个测试通道接收触发信号。触发接收到触发信号的每一个测试通道的时间测量单元。被触发的时间测量单元测量待测信号的时序。待测信号关联于测试通道电性连接的待测物。

根据上述本发明所揭露的自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法，藉由群组化测试通道的方式，在设定检测内容方面，自动测试设备可以一次性地设定多个测试通道，在触发程序方面，亦可以一次性地触发一个或多个测试群组，使测试群组中的测试通道被触发以进行待测物的时序测量，据以减少自动测试设备设定和进行触发程序的时间，提升测量效率。

以上的关于本揭露内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的专利申请范围更进一步的解释。

附图说明

图1是根据本发明一实施例所绘示的自动测试设备的功能方块图。

图2是根据本发明一实施例所绘示的测试通道的功能方块图。

图3是根据本发明另一实施例所绘示的时间测量单元的功能方块图。