[发明专利]光学测量探针校准

权利要求书

1.用于测量触觉测量探针（2）的信号引发的感测偏斜I_Tr的校准设备（1），所述触觉测量探针（2）具有带感测表面（4）的可偏斜感测元件（3），所述校准设备（1）包含具有用于检测感测元件（3）的感测表面（4）的视场（9）的检测器（5），具有参考表面（8）的参考元件（7），以及计算单元（6），所述检测器优选地是相机或激光测量仪器，所述校准设备（1）的特征在于

参考元件（7）的参考表面（8）关于检测器（5）的视场（9）以以下方式布置：在感测元件（3）的感测表面（4）与参考表面（8）的信号引发的接触的情况下，感测表面（4）或者感测表面（4）的部分位于检测器（5）的视场（9）中，检测器（5）和计算单元（6）能够从感测表面（4）的所检测部分计算感测元件（3）的精确位置。

2.根据权利要求1所述的校准设备（1），其特征在于，参考元件（7）或其参考表面（8）位于检测器（5）的视场（9）内部或外部。

3.根据前述权利要求1和2中的一项所述的校准设备（1），其中参考元件（7）装备有一个或多个喷嘴（10），喷嘴（10）优选地朝向参考表面（8）。

4.根据权利要求1所述的校准设备（1），其特征在于，感测元件（3）或其感测表面（4）以球体或球冠的形状配置。

5.根据权利要求1所述的校准设备（1），其特征在于，此外，校准设备还可检测和计算工具的位置，特别是铣削工具的位置。

6.用于机床（11）的坐标测量系统（15），具有根据前述权利要求中一项所述的校准设备（1）并且具有触觉测量探针（2），触觉测量探针（2）能够夹紧在机床（11）的工具头（12）上并且具有可偏斜感测元件（3）和分配给感测元件（3）的感测表面（4），可能的是感测元件（3）的信号引发的感测偏斜I_Tr发生在测量探针纵向轴线（14）的方向上，与其垂直地发生，或者发生在以关于纵向轴线（14）倾斜达角度的方向上。

7.根据权利要求6所述的具有校准设备（1）的用于机床（11）的坐标测量系统（15），其特征在于，感测元件（3）通过压缩或牵引而可偏斜。

8.根据权利要求6所述的具有校准设备（1）的用于机床（11）的坐标测量系统（15），其特征在于，计算单元（6）可在由检测器（5）确定的感测元件（3）的位置以及工具头（12）的位置的帮助下计算感测元件（3）的信号引发的感测偏斜I_Tr。

9.用于根据权利要求6所述的坐标测量系统（15）的测量方法，其特征在于，为了对测量探针（2）的信号引发的感测偏斜I_Tr进行测量，最初以发起接触信号的这种方式使测量探针（2）的感测元件（3）与参考元件（7）的参考表面（8）接触，接下来在测量探针（2）的之前已知的长度的帮助下，并且根据由校准设备（1）的计算单元（6）和检测器（5）确定的感测元件（3）的位置和工具头（12）上的测量探针（2）的夹紧点（17）的位置，坐标测量系统（15）计算测量探针（2）的感测偏斜I_Tr。

10.根据权利要求9所述的用于坐标测量系统（15）的测量方法，其特征在于，在信号引发的感测偏斜I_Tr的测量之前，测量探针（2）的长度通过定位于检测器（5）的视场（9）中的感测元件（3）的感测表面（4）的部分或者感测表面（4）来确定，而感测元件（3）在此过程中没有触碰其它对象，检测器（5）和计算单元（6）从感测表面（4）的所检测部分计算感测元件（3）的精确位置，并且计算单元（6）在感测元件（3）的该确定位置以及工具头（12）上的测量探针（2）的夹紧点（17）的位置的帮助下计算测量探针（2）的长度。