[发明专利]用于求取时段的时间测量器和方法在审

专利信息
申请号: 201610840369.2 申请日: 2016-09-22
公开(公告)号: CN107015474A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: S.诺尔;C.舍林 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G04F10/10 分类号: G04F10/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 梁冰,宣力伟
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 求取 时段 时间 测量器 方法
【权利要求书】:

1.时间测量器(8),包括:装置(1),该装置在时间上改变该装置的状态;以及评估单元(2),在该评估单元中存放有参考状态(3),其特征在于,

- 所述装置(1)包括结构(4),该结构的电阻在时间上改变,并且

- 所述评估单元(2)被布置用于:通过将代表所述结构(4)的电阻的值与所述参考状态(3)进行比较来求取时段(t)。

2.按照权利要求1所述的时间测量器(8),其特征在于,所述结构(4)具有长度,并且沿着该长度布置有至少一个第一取用部(5),该第一取用部与评估单元(2)相连。

3.按照前述权利要求中任一项所述的时间测量器(8),其特征在于,所述结构(4)曲折形地实施。

4.按照前述权利要求中任一项所述的时间测量器(8),其特征在于,所述结构(4)由退化的材料构造。

5.按前述权利要求中任一项所述的时间测量器(8),其特征在于,结构(4)的电阻基于化学过程而改变。

6.按照权利要求5所述的时间测量器(8),其特征在于,所述化学过程是氧化反应。

7.按照前述权利要求中任一项所述的时间测量器(8),其特征在于,

- 所述装置(1)包括第二结构(9),该第二结构的电阻在时间上改变,其中,所述第二结构(9)具有第二温度系数,该第二温度系数偏离于所述结构(4)的第一温度系数,

- 所述评估单元(2)构造用于求取所述结构(4)的电阻和所述第二结构(9)的第二电阻,并且

- 所述评估单元(2)构造用于在考虑所述第一温度系数和第二温度系数的情况下求取所述时段(t)。

8.用于利用按前述权利要求中任一项所述的时间测量器(8)求取时段(t)的方法。

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