[发明专利]立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途有效

专利信息
申请号: 201610824569.9 申请日: 2016-09-14
公开(公告)号: CN107354453B 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 傅戈雁;史建军;邓志强;刘宇 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: C23C24/10 分类号: C23C24/10;B22F3/105;B33Y10/00;B33Y50/02
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 激光 成形 工艺 计算 临界 搭接率 方法 用途
【权利要求书】:

1.一种立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于,主要包括以下步骤:

A、定义搭接率计算公式η=1-L/w,式中L为相邻熔道起点的偏移量,w为熔道的宽度;

B、提供立面激光熔覆熔道的轮廓图;

C、利用Matlab软件对立面熔道的轮廓线进行提取和组合滤波;

D、对立面相邻熔道轮廓的重合面积与间隙面积分别进行离散积分,得到关于偏移量的函数;

E、计算出步骤D中两函数值相等时的临界偏移量;

F、将E步骤中计算得到的临界偏移量带入步骤A中的搭接率计算公式中,以计算出临界搭接率,所述临界搭接率用于保证成形件表面平整度。

2.如权利要求1所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于,步骤C中,提取立面熔道轮廓线的步骤包括:

(1)通过阀值分割算法将熔道基体与镶嵌材料分离;

(2)利用边缘识别算法得出熔道轮廓高度关于横向像素数的函数;

(3)对轮廓边缘的毛刺进行处理。

3.如权利要求2所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于:步骤C中的(2)与(3)之间还包括步骤(2’)调整图形与坐标的关系,以得到完整的熔道轮廓。

4.如权利要求1所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于,步骤D中间隙面积关于偏移量的函数式为:

式中i为熔道水平方向的偏移量,ymax为最高点的值,p为最高点对应的横坐标,S1+S2为相邻熔道顶点间的间隙面积,x1为DF之间的距离,D为相邻熔道中后一熔道的起始点,F为相邻熔道中前一熔道的终止点,x2为EF之间的距离,E为相邻熔道间重合点C在宽度坐标方向上的投影点,d(j)为相应点的纵坐标,w为熔道的宽度。

5.如权利要求4所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于,步骤D中重合面积关于偏移量的函数式为:式中i为熔道水平方向的偏移量,w为熔道的宽度,S3+S4为相邻熔道间的重合面积。

6.如权利要求1所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于,步骤E中临界偏移量的计算方法包括以下步骤:

1)选取激光功率、扫描速度、送粉量三个工艺参数进行临界偏移量的建模,得到多元回归方程为:式中为相邻熔道间的临界偏移量,a0,a1,a2,a3为常数,x1为激光功率,x2为扫描速度,x3为送粉量;

2)运用excel计算出不同工艺参数下相邻熔道的临界搭接率,并进行回归计算,得出回归方程具体为:

3)对所求得的回归方程进行统计检验。

7.如权利要求6所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于,回归方程的显著性通常用F检验进行:式中f表示剩余平方和自由度;f表示回归平方和的自由度;

回归平方和表示为i为第i个样本;ei为剩余值;yi为各样本实测值;为预测值;剩余平方和为为对样本实测值取平均后的数值,剩余平方和自由度P为变量数量;为组合计算值;n为样本总数量。

8.如权利要求7所述的立面激光熔覆成形工艺中计算临界搭接率的方法的用途,其特征在于:还包括对各个因子的回归参数指标进行显著性的检验,最终得到相邻熔道临界偏移量的模型为:LO=0.6193+0.6788P-0.0183V-0.0107Q,式中,LO为相邻熔道的临界偏移量,P为激光功率,V为扫描速度,Q为送粉量。

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