[发明专利]芯片的安全保护电路及保护方法在审
申请号: | 201610824186.1 | 申请日: | 2016-09-14 |
公开(公告)号: | CN107818270A | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 唐有 | 申请(专利权)人: | 国民技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F21/72 | 分类号: | G06F21/72 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人: | 李庆波 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 安全 保护 电路 方法 | ||
1.一种芯片的安全保护电路,其特征在于,所述安全保护电路包括:
安全监测电路,用于监测所述芯片是否遭受故障攻击;
休眠控制单元,用于在所述芯片遭受故障攻击时控制所述芯片进入休眠状态;以及
定时控制单元,用于在所述芯片进入所述休眠状态的时间达到或超过休眠时限后唤醒所述芯片。
2.如权利要求1所述的安全保护电路,其特征在于:所述安全监测电路包括用于对所述芯片的工作环境进行监测的安全传感器、数据校验电路以及流程控制单元中的至少其中之一。
3.如权利要求2所述的安全保护电路,其特征在于,所述工作环境包含温度、电压、频率、光线照射、放射线照射以及电磁场中的至少一个。
4.如权利要求1所述的安全保护电路,其特征在于,所述定时控制单元通过监测一电容或电容组的充电或放电过程来判定所述芯片进入所述休眠状态的时间是否达到或超过所述休眠时限。
5.如权利要求4所述的安全保护电路,其特征在于,所述定时控制单元在所述芯片进入所述休眠状态后控制所述电容或电容组进行充电或放电,并在所述电容或电容组的充电或放电的电量达到或超过电量阈值后判定所述芯片进入所述休眠状态的时间达到或超过所述休眠时限。
6.如权利要求5所述的安全保护电路,其特征在于,所述定时控制单元能够对所述电量阈值和/或所述电容或电容组的充电或放电速率进行调整。
7.如权利要求1所述的安全保护电路,其特征在于,所述休眠时限是可调的。
8.如权利要求7所述的安全保护电路,其特征在于,所述休眠时限根据所述芯片遭受故障攻击的次数或强度进行调整,其中所述芯片遭受故障攻击的次数越多或强度越大,则所述休眠时限越长。
9.如权利要求1-8任意一项所述的安全保护电路,其特征在于,所述安全保护电路还包括中央处理元,耦接到所述安全监测电路、所述休眠控制单元以及所述定时控制单元,用于协调所述安全监测电路、所述休眠控制单元以及所述定时控制单元的运作。
10.如权利要求1所述的安全保护电路,其特征在于,所述定时控制单元在所述芯片进入所述休眠状态的时间达到或超过休眠时限后直接或通过所述休眠控制单元唤醒所述芯片。
11.一种芯片的安全保护方法,其特征在于,所述安全保护方法包括以下步骤:
监测所述芯片是否遭受故障攻击;
若遭受故障攻击,则控制所述芯片处于休眠状态;
判断所述芯片处于休眠状态的时间是否达到或超过休眠时限;以及
若达到或超过所述休眠时限,则唤醒所述芯片。
12.如权利要求11所述的安全保护方法,其特征在于,所述判断所述芯片处于休眠状态的时间是否达到或超过休眠时限的步骤包括:
通过监测一电容或电容组的充电或放电过程来判定所述芯片进入所述休眠状态的时间是否达到或超过所述休眠时限。
13.如权利要求12所述的安全保护方法,其特征在于,所述通过监测所述电容或电容组的充电或放电过程来判定所述芯片进入所述休眠状态的时间是否达到或超过所述休眠时限的步骤包括:
在所述芯片进入所述休眠状态后控制所述电容或电容组进行充电或放电,并在所述电容或电容组的充电或放电的电量达到或超过电量阈值后判定所述芯片进入所述休眠状态的时间达到或超过所述休眠时限。
14.如权利要求11所述的安全保护方法,其特征在于,在所述判断所述芯片处于休眠状态的时间是否达到或超过休眠时限的步骤之前进一步包括:
对所述休眠时限进行调整。
15.如权利要求14所述的安全保护方法,其特征在于,所述对所述休眠时限进行调整的步骤包括:
根据所述芯片遭受故障攻击的次数或强度对所述休眠时限进行调整,其中所述芯片遭受故障攻击的次数越多或强度越大,则所述休眠时限越长。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国民技术股份有限公司,未经国民技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610824186.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种组件处理方法和装置
- 下一篇:基于芯片版图的故障注入分析方法及系统