[发明专利]STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法有效
| 申请号： | 201610813505.9 | 申请日： | 2016-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN106291966B | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 龚薇;斯科;吴晨雪 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G02B27/58 | 分类号： | G02B27/58 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光斑 显微技术 质量重建 分区 加载 相位空间 样品光束 超分辨 光调制 焦平面 均一 物镜 聚焦 空间光调制器 互相关计算 系统分辨率 多次迭代 内部损耗 受激辐射 系统成像 优化成像 像素点 淬灭 畸变 校正 重建 应用 | ||
【说明书】：
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