[发明专利]一种平库均质化调控方法、系统及具有该系统的服务器有效
| 申请号: | 201610783490.6 | 申请日: | 2016-08-31 |
| 公开(公告)号: | CN107783514B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
| 发明(设计)人: | 张军;薛庆逾;石超 | 申请(专利权)人: | 上海创和亿电子科技发展有限公司 |
| 主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 徐秋平 |
| 地址: | 201808 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 平库均质化 调控 方法 系统 具有 服务器 | ||
本发明提供一种平库均质化调控方法、系统及具有该系统的服务器,平库均质化调控方法包括以下步骤:根据原料仓库的尺寸大小和成品箱的尺寸大小,计算每个原料仓库中应划分的通道数量T;T为大于1的正整数;获取每个成品箱的化学值信息,从中选择调控指标;选择T个成品箱,所述T个成品箱按从1至T通道顺序摆放,并获取每个通道的调控指标均值,及每个通道内成品箱的数量;其中,所选择的成品箱数量与计算出的通道数量一致;设定第i个成品箱应摆放的通道,直至每个通道上的成品箱行数/列数满足预置的成品箱行数/列数限制规则;其中,i为大于等于T+1的正整数。本发明可快捷、准确地均质化调控,提高了仓库的利用率,以及出库的便捷性。
技术领域
本发明属于近红外快速检测领域、原料仓库管理领域、和成箱制品生产质量调控领域,涉及一种调控方法和系统,特别是涉及一种平库均质化调控方法、系统及具有该系统的服务器。
背景技术
随着近年来,人们对烟叶质量的要求的逐渐提高,均质化生产越来越多的应用于打叶复烤领域,高架库作为一种重要的烟叶存储与烟叶调控手段,在烟叶的化学指标的控制领域越来越重要;在一般的烟叶质量调控的过程中需要对烟叶的化学指标划定几个区间,然后分区间组批出库;运用近红外技术来调控烟叶的原料的均匀性性近年来多有报道,如专利申请号为201110440724.4,发明名称为一种基于化学成分的打叶复烤产品均匀性系统调控方法及其应用,专利申请号为201110440724.4,发明名称为一种调控不同批次卷烟烟丝质量均匀性的方法及其应用;上海创和亿电子科技发展有限公司学薛庆逾,何利波,张军等所发表的专利申请号为201410114282.8,一种适用于平库的原烟打叶复烤均质化方法,基于近红外光谱的原料的均质化调控经过大规模应用实证为稳定的方法;但是在平库的领域,传统的分区间的方法存在一些关键而难以克服的问题:区间的划分较为困难,原因在于区间划分的过多,不利于原烟仓库的管理,仓库的利用率会很低;如果区间划分的过少,每个区间的化学值的波动又会较大,与分类对方,组批加工的原则相违背,使得最后控制的结果针对分选之后的烟叶不是特别理想。
因此,如何提供一种平库均质化调控方法、系统及具有该系统的服务器,以解决现有技术无法快捷、准确地均质化调控,且无法充分利用原料仓库,不便于成品的生产管理等缺陷,实已成为本领域从业人员亟待解决的技术问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种平库均质化调控方法、系统及具有该系统的服务器,用于解决现有技术中无法快捷、准确地均质化调控,且无法充分利用原料仓库,不便于成品的生产管理的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明一方面提供提供一种平库均质化调控方法,所述平库均质化调控方法包括以下步骤:根据原料仓库的尺寸大小和成品箱的尺寸大小,计算每个原料仓库中应划分的通道数量T;T为大于1的正整数;获取每个成品箱的化学值信息,从中选择调控指标;选择T个成品箱,所述T个成品箱按从1至T通道顺序摆放,并获取每个通道的调控指标均值,及每个通道内成品箱的数量;其中,所选择的成品箱数量与计算出的通道数量一致;设定第i个成品箱应摆放的通道,直至每个通道上的成品箱行数/列数满足预置的成品箱行数/列数限制规则;其中,i为大于等于T+1的正整数。
于本发明的一实施例中,所述打叶复烤平库均质化调控方法还包括:计算通道的均质化调控评价指标,以便在成品箱出库后,经过打叶复烤,复烤后继续取样检测成品样本,计算成品样本的标准偏差和变异系数。
于本发明的一实施例中,所述调控指标包括常规化学指标,烟叶外观指标,化学综合指标,外观综合指标,和/或光谱定性指标;所述均质化调控评价指标包括每个通道的调控指标均值,调控指标标准偏差,变异系数,调控指标极差,和/或成品箱分布参数。
于本发明的一实施例中,所述每个原料仓库中应划分的通道数量T=取整[原料仓库的长度除以成品箱的长度]。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海创和亿电子科技发展有限公司,未经上海创和亿电子科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610783490.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种GIS局部放电在线监测系统
- 下一篇:一种UPS蓄电池交流检测电路





