[发明专利]利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法在审
| 申请号： | 201610774311.2 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106124545A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 李立;杨廷红;罗谋兵;魏建强 | 申请（专利权）人： | 中国石油集团川庆钻探工程有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01V5/04 |
| 代理公司： | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人： | 冉鹏程 |
| 地址： | 610051 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 利用 岩屑 射线 荧光 光谱 特征 进行 分层 方法 | ||
【说明书】：
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