[发明专利]集成电路芯片斜背式分选机手动自动一体收料装置

说明书

本发明涉及一种集成电路芯片斜背式分选机手动自动一体收料装置，包括分别设置于每组分选轨道槽组、手动拔管收料机构和自动换管收料机构，手动拔管收料机构包括对应设置于每组分选轨道槽组出口处的收料管条槽组，收料管条槽组内沿横向设有与每组分选轨道槽组中分选过料轨道槽一一对应的收料管条槽，自动收料机构包括对应设置于每个入料缓存轨道槽出口处的收料子机构，收料子机构包括两个上下相对竖向设置上料管滑架和下料管滑架，上料管滑架和下料管滑架的下方横向移动的传输板，传输板上表面设有凸起的推部，并且推部的外侧至传输板外侧之间形成一输管口。本发明的有益效果在于：通过2N个入料轨道槽同时检测，提高分选测量的效率。

技术领域

本发明涉及集成芯片分选领域，尤其涉及一种集成电路芯片斜背式分选机手动自动一体收料装置。

背景技术

集成电路芯片在出厂前必须经过严格测试，测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，如电流和电压等。人们需要将测试结果不在合格范围内的集成电路芯片筛选出来，并将测试结果不同的集成电路芯片进行分类。目前，一般采用自动分选机代替人工分选。但现有的集成电路芯片的分选方式容易造成集成电路芯片装管分散，导致效率低。

发明内容

本发明的目的是针对以上不足之处，提供了一种集成电路芯片斜背式分选机手动自动一体收料装置，通过手动和自动收料分别回收不合格品芯片和合格品芯片，灵活性高，操作方便。

本发明解决技术问题所采用的方案是：一种集成电路芯片斜背式分选机手动自动一体收料装置，所述分选机包括一组以上用于回收不合格品芯片的分选轨道槽组和一个以上用于回收合格芯片的入料缓存轨道槽，每组分选轨道槽组包括若干个横向设置的分选过料轨道槽；所述分选轨道槽组设置于入料缓存轨道槽的外侧旁；所述收料装置包括分别设置于每组分选轨道槽组和每个入料缓存轨道槽下方的手动收料拔管机构和自动换管收料机构，所述手动拔管收料机构包括对应设置于每组分选轨道槽组出口处的收料管条槽组，所述收料管条槽组内沿横向设有与每组分选轨道槽组中分选过料轨道槽一一对应的收料管条槽，每个收料管条槽内分别穿设有一用于收集芯片的收料管；所述自动换管收料机构包括对应设置于每个入料缓存轨道槽出口处的收料子机构，所述收料子机构包括两个上下相对竖向设置用于放置空料管的上料管滑架和下料管滑架，所述上料管滑架和下料管滑架的下方横向移动的传输板，所述传输板上表面设有一凸起的推部，并且推部的外侧至传输板外侧之间形成一输管口，所述输管口的宽度等于所述空料管的宽度，所述推部的厚度等于空料管的厚度；所述传输板经一传输气缸驱动横向移动，所述传输气缸与一控制模块电连。

进一步的，所述上料管滑架和下料管滑架的中部分别沿竖向开设有一料管卡槽，并且所述上料管滑架和下料管滑架底端一侧的均开设有用于空料管穿过的缺口，所述上料管滑架底端靠近入料缓存轨道槽出口处设有一用于压紧空料管的压紧气缸，所述下料管滑架的底端处还设有一用于顶紧空料管的顶紧气缸，所述压紧气缸、顶紧气缸与所述控制模块电连。

进一步的，所述分选轨道槽组、入料缓存轨道槽、手动收料机构和自动收料机构均设置于一斜面板上。

进一步的，所述上料管滑架底端处还设有一用于检测空料管是否存在的第一红外传感器，所述斜面板上靠近所述上料管滑架与下料管滑架的一侧还设有一用于卡住空料管的卡块座，所述卡块经一卡块气缸上下驱动，所述卡块气缸与所述控制模块电连。

进一步的，所述斜面板上位于传输板的外侧旁还设有一用于收集装满后的空料管的收集槽。

进一步的，每个入料缓存轨道槽的出口处分别设有一挡针，所述挡针经一挡料气缸驱动，所述挡料气缸与所述控制模块电连。

进一步的，每个分选过料轨道槽和入料缓存轨道槽的入口处还分别设有一用于检测是否卡料的第二红外传感器。

进一步的，每个收料管条槽内还分别设有一行程开关，用于检测收料管是否存在。