[发明专利]一种卫星包装箱气密缺陷检测方法有效
申请号: | 201610725111.8 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106323563B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 宋伟;王琛;廖传清;胡蓝 | 申请(专利权)人: | 上海航天设备制造总厂 |
主分类号: | G01M3/12 | 分类号: | G01M3/12 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 金家山 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包装箱 气密 箱盖 缺陷位置 内蒙皮 检测 充气 卫星 缺陷检测 箱体箱盖 着色探伤 内表面 内夹层 气密性 外蒙皮 漏气 合盖 箱合 焊接 密封 装配 | ||
1.一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,其特征在于,将卫星包装箱气密缺陷的检测分为四步穿插在包装箱整个生产过程中,具体包括:
(1)在卫星包装箱骨架与蒙皮焊接后对箱体内蒙皮的内表面和箱盖内蒙皮的内表面进行着色探伤检测缺陷;
(2)然后箱体箱盖合盖密封,箱内充气,通过检测外蒙皮外侧漏气点确定气密缺陷位置;
(3)待整箱装配完毕后,整箱合盖后,箱内充气,检测各穿舱接头气密缺陷位置;
(4)箱体和箱盖分离,分别向箱体和箱盖内夹层充气,检测箱体内蒙皮和箱盖内蒙皮缺陷位置。
2.根据权利要求1所述一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤(1)在卫星包装箱箱体内侧蒙皮和箱盖内侧蒙皮装焊完成后,先分别对箱体内蒙皮和箱盖内蒙皮焊缝进行表面探伤检验,排除大部分影响包装箱气密性的缺陷。
3.根据权利要求1所述一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤(2)在整箱机加工完成后以及夹层泡沫填充前,箱体和箱盖合盖密封,并封堵各种穿舱接头孔,向整箱内充气,通过检测外蒙皮外部漏气位置确定气密缺陷位置,直至充入气体保压24小时后压降小于许可值则停止。
4.根据权利要求1所述一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤(3)在卫星包装箱整体装配完成后,进行整箱气密试验,用于排除各穿舱接头气密缺陷;气密试验按以下步骤进行:从充气接头向箱内充气,检查各穿舱接头漏气点确定缺陷位置;待排除穿舱接头漏气点缺陷,向箱内充气保压24小时,如果压降小于许可值,则整箱气密试验检漏完成,反之则进行步骤(4)。
5.根据权利要求1所述一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤(4)夹层充气,箱内检漏,用于排除内蒙皮在步骤(2)后续制造过程中新产生的缺陷;气密试验按以下步骤进行:通过事先预留通往箱体、箱盖夹层的接头往夹层内充气,检测箱体内蒙皮和箱盖内蒙皮气密缺陷位置;然后保压24小时,如压降小于许可值则整箱气密试验完成,反之则反复进行往夹层内充气,检测箱体内蒙皮和箱盖内蒙皮气密缺陷位置,直至24小时充氮气保压压降小于许可值。
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