[发明专利]电子装置的自动修复系统及方法有效
申请号: | 201610708065.0 | 申请日: | 2016-08-23 |
公开(公告)号: | CN107766165B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 简子伟 | 申请(专利权)人: | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神云科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 528308 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 装置 自动 修复 系统 方法 | ||
1.一种电子装置异常的自动修复系统,其特征在于:包括
一电子装置,具有至少一电子元件;
一MCU,通过多个GPIO接口分别与多个电子元件的引脚电连接,该MCU包括一数据库、一分析模块及一修复模块,该分析模块分别连接该数据库与该修复模块,该数据库中预存有多种不同电子元件异常时的样本信号及多种修复方案,其中每一电子元件异常时的样本信号对应一种修复方案,该分析模块通过该MCU的GPIO引脚接收该至少一电子元件发来的实时信号,将其与该数据库中的多种不同电子元件异常时的样本信号作对比,当在数据库中找到匹配的其中一该电子元件异常时的样本信号时,向该修复模块发送与其匹配的其中一该电子元件异常的样本信号对应的修复方案,该修复模块按照对应该电子元件的该修复方案对该电子装置中的该电子元件进行修复。
2.根据权利要求1所述的电子装置异常的自动修复系统,其特征在于:该实时信号包括高低电平状态变化情况。
3.一种电子装置异常的自动修复方法,用于对发生异常的电子装置进行修复,其特征在于:该方法包括以下步骤:
(A)一MCU中预存一数据库,该数据库中包括多种不同电子元件异常状态时的样本信号及多种修复方案,其中每一电子元件异常时的样本信号对应一种修复方案;
(B)一电子装置的至少一电子元件向该MCU发送一实时信号;
(C)MCU接收该至少一电子元件发来的实时信号,并将其与数据库中的多种不同电子元件异常时的样本信号进行比对;
(D)MCU比对到该实时信号与数据库中其中一该电子元件异常的样本信号一致后,找到匹配的其中一该电子元件异常时的样本信号对应的修复方案
(E)MCU按照该修复方案执行修复程序,以修复故障的电子元件。
4.根据权利要求3所述的电子装置异常的自动修复方法,其特征在于:在步骤(C)中,根据该实时信号的高低电平状态来进行比对。
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