[发明专利]一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法有效
| 申请号: | 201610707394.3 | 申请日: | 2016-08-23 |
| 公开(公告)号: | CN106323599B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
| 发明(设计)人: | 张俊波;张昂 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 成像 大视场 望远镜光学系统 波前探测器 全视场 检测 望远镜 波前复原算法 成像质量检测 准确度 闭环结构 测量视场 测量数据 共焦位置 检测问题 六维运动 平行光源 中心视场 自动检测 标定 出射 视场 近似 重复 | ||
1.一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,利用的检测装置包括平行光源(1)及其二维运动台(2)、波前探测器(4)及其六维运动台(5)、计算机(3),其中计算机(3)、二维运动台(2)、六维运动台(5)和波前探测器(4)组成控制系统,并且计算机(3)、波前探测器(4)和六维运动台(5)组成定位闭环结构,其特征在于,该检测方法包括以下步骤:
第一步:基准视场标定,将平行光源(1)调整至中心视场位置,然后安装并调整波前探测器(4)至被测大视场望远镜(6)的共焦位置;
第二步:测量视场改变,通过二维运动台(2)调整平行光源(1)的倾斜和俯仰姿态,达到被测大视场望远镜(6)所需的入射视场角;
第三步:波前探测器(4)定位,根据定位闭环结构调整六维运动台(5)的位置和姿态,直至波前探测器(4)与被测大视场望远镜(6)处于共焦位置;
第四步:成像质量检测,计算机(3)依据波前探测器(4)的测量数据,利用相关的波前复原算法,计算得到被测大视场望远镜(6)光学系统的成像质量;
重复第二步至第四步,直至完成全视场范围成像质量的检测。
2.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的平行光源(1),可以采用反射式或透射式,有效口径需大于被测大视场望远镜(6)的有效口径。
3.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的测量视场需在检测之前,根据被测大视场望远镜(6)的视场范围和检测要求确定,可以按方形或圆形分布形式选择。
4.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的波前探测器(4)可以采用哈特曼传感器、剪切干涉仪或曲率测量仪。
5.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的六维运动台(5)是指具备空间六个自由度的运动台。
6.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的控制系统中,计算机(3)用于计算、存储波前信息和视场信息,其输入信息包括波前探测器(4)测量的波前信息,输出信息为二维运动台(2)的运动控制指令、六维运动台(5)的运动控制指令、所有视场状态下被测大视场望远镜(6)的成像质量。
7.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的定位闭环结构由波前探测器(4)、六维运动台(5)与计算机(3)组成,波前探测器(4)测量波前信息,计算机(3)处理波前信息和子孔径光斑分布信息,并提取倾斜、俯仰和离焦数据,根据坐标耦合关系,调整六维运动台(5)空间姿态,直至实现波前探测器(4)的匹配透镜与被测大视场望远镜(6)处于共焦位置。
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