[发明专利]一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法有效

专利信息
申请号: 201610707394.3 申请日: 2016-08-23
公开(公告)号: CN106323599B 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 张俊波;张昂 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 成像 大视场 望远镜光学系统 波前探测器 全视场 检测 望远镜 波前复原算法 成像质量检测 准确度 闭环结构 测量视场 测量数据 共焦位置 检测问题 六维运动 平行光源 中心视场 自动检测 标定 出射 视场 近似 重复
【权利要求书】:

1.一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,利用的检测装置包括平行光源(1)及其二维运动台(2)、波前探测器(4)及其六维运动台(5)、计算机(3),其中计算机(3)、二维运动台(2)、六维运动台(5)和波前探测器(4)组成控制系统,并且计算机(3)、波前探测器(4)和六维运动台(5)组成定位闭环结构,其特征在于,该检测方法包括以下步骤:

第一步:基准视场标定,将平行光源(1)调整至中心视场位置,然后安装并调整波前探测器(4)至被测大视场望远镜(6)的共焦位置;

第二步:测量视场改变,通过二维运动台(2)调整平行光源(1)的倾斜和俯仰姿态,达到被测大视场望远镜(6)所需的入射视场角;

第三步:波前探测器(4)定位,根据定位闭环结构调整六维运动台(5)的位置和姿态,直至波前探测器(4)与被测大视场望远镜(6)处于共焦位置;

第四步:成像质量检测,计算机(3)依据波前探测器(4)的测量数据,利用相关的波前复原算法,计算得到被测大视场望远镜(6)光学系统的成像质量;

重复第二步至第四步,直至完成全视场范围成像质量的检测。

2.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的平行光源(1),可以采用反射式或透射式,有效口径需大于被测大视场望远镜(6)的有效口径。

3.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的测量视场需在检测之前,根据被测大视场望远镜(6)的视场范围和检测要求确定,可以按方形或圆形分布形式选择。

4.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的波前探测器(4)可以采用哈特曼传感器、剪切干涉仪或曲率测量仪。

5.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的六维运动台(5)是指具备空间六个自由度的运动台。

6.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的控制系统中,计算机(3)用于计算、存储波前信息和视场信息,其输入信息包括波前探测器(4)测量的波前信息,输出信息为二维运动台(2)的运动控制指令、六维运动台(5)的运动控制指令、所有视场状态下被测大视场望远镜(6)的成像质量。

7.根据权利要求1所述的大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法,其特征在于:所述的定位闭环结构由波前探测器(4)、六维运动台(5)与计算机(3)组成,波前探测器(4)测量波前信息,计算机(3)处理波前信息和子孔径光斑分布信息,并提取倾斜、俯仰和离焦数据,根据坐标耦合关系,调整六维运动台(5)空间姿态,直至实现波前探测器(4)的匹配透镜与被测大视场望远镜(6)处于共焦位置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610707394.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top