[发明专利]一种芯片干燥装置在审

专利信息
申请号: 201610701915.4 申请日: 2016-08-20
公开(公告)号: CN107768272A 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 刘媛 申请(专利权)人: 刘媛
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 225006 江苏省扬州市广陵经*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 干燥 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体封装技术领域,尤其涉及芯片软焊料焊接时的干燥装置。

背景技术

在使用软焊料进行芯片底面焊接时,对于不同晶圆厂提供的芯片,经常会发现焊接空洞存在较大的差异,在相同的封装技术下,部分晶圆厂的芯片,其焊接空洞会超出行业内空洞比例要求,从而造成焊接品质出现异常;针对此异常,目前常用的解决方案有以下几点:

一、采用含杂质较少的进口焊料丝,减少因焊料引起的气泡问题;

二、装片时打擦洗,使芯片背面与焊料更充分的融合;

三、装片时间加长,使芯片背面与焊料有充分的融合时间,排出气泡;

四、提升装片温度,减少焊接空洞。

但是上述方案仍无法完全避免焊接空洞超标或者偏大现象。

发明内容

本发明针对以上问题,提供了一种可以有效的减少焊接空洞,提升产品品质的芯片干燥装置。

本发明的技术方案是:包括密闭容器,所述密闭容器内设有支架、干燥剂和温湿度传感器,所述支架用于放置芯片,所述密闭容器连接真空泵;

所述密闭容器的两侧分别设有加热腔,所述加热腔内设空气加热器。

所述干燥剂为变色硅胶。

所述密闭容器上还设有计时器。

所述温湿度传感器具有一对,其中,一温湿度传感器位于芯片和干燥剂之间,另一温湿度传感器位于芯片的上方。

本发明在工作中,晶圆划片后、装片前,增加一个密闭容器,将划片后待装片的晶圆(带切割胶带)放入其中,密闭容器中再装入变色硅胶,密闭容器抽真空,芯片背面与切割胶带之间的水汽被变色硅胶吸附走,从而有效的减少焊接气泡,降低焊接空洞比例。本发明方便加工,操作可靠。

附图说明

图1是本发明的结构示意图,

图中1是密闭容器,2是支架,3是干燥剂,4是温湿度传感器,5是芯片,6真空泵,7是加热腔,8是空气加热器。

具体实施方式

本发明如图1所示,包括密闭容器1,所述密闭容器1内设有支架2、干燥剂3和温湿度传感器4,温湿度传感器便于了解密闭容器内的温度和湿度,便于控制;所述支架2用于放置芯片5,所述密闭容器1连接真空泵6;

所述密闭容器的两侧分别设有加热腔7,所述加热腔7内设空气加热器8,使得密闭容器内升温,加速水汽分子的自由运动,便于吸附。

所述干燥剂3为变色硅胶,吸附性强,吸附芯片上的水汽。

所述密闭容器1上还设有计时器,便于计时,控制时间。

所述温湿度传感器具有一对,其中,一温湿度传感器位于芯片和干燥剂之间,另一温湿度传感器位于芯片的上方,便于观察不同位置的温湿度。

本发明包括以下步骤:1)取划片后待焊接的芯片,放入密闭容器中,同时密闭容器中放入变色硅胶;2)密闭容器抽真空;3)常温放置6h以上,然后取出芯片进行焊接,焊接空洞可以得到明显改善。

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