[发明专利]一种芯片干燥装置在审
申请号: | 201610701915.4 | 申请日: | 2016-08-20 |
公开(公告)号: | CN107768272A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 刘媛 | 申请(专利权)人: | 刘媛 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 225006 江苏省扬州市广陵经*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 干燥 装置 | ||
技术领域
本发明涉及半导体封装技术领域,尤其涉及芯片软焊料焊接时的干燥装置。
背景技术
在使用软焊料进行芯片底面焊接时,对于不同晶圆厂提供的芯片,经常会发现焊接空洞存在较大的差异,在相同的封装技术下,部分晶圆厂的芯片,其焊接空洞会超出行业内空洞比例要求,从而造成焊接品质出现异常;针对此异常,目前常用的解决方案有以下几点:
一、采用含杂质较少的进口焊料丝,减少因焊料引起的气泡问题;
二、装片时打擦洗,使芯片背面与焊料更充分的融合;
三、装片时间加长,使芯片背面与焊料有充分的融合时间,排出气泡;
四、提升装片温度,减少焊接空洞。
但是上述方案仍无法完全避免焊接空洞超标或者偏大现象。
发明内容
本发明针对以上问题,提供了一种可以有效的减少焊接空洞,提升产品品质的芯片干燥装置。
本发明的技术方案是:包括密闭容器,所述密闭容器内设有支架、干燥剂和温湿度传感器,所述支架用于放置芯片,所述密闭容器连接真空泵;
所述密闭容器的两侧分别设有加热腔,所述加热腔内设空气加热器。
所述干燥剂为变色硅胶。
所述密闭容器上还设有计时器。
所述温湿度传感器具有一对,其中,一温湿度传感器位于芯片和干燥剂之间,另一温湿度传感器位于芯片的上方。
本发明在工作中,晶圆划片后、装片前,增加一个密闭容器,将划片后待装片的晶圆(带切割胶带)放入其中,密闭容器中再装入变色硅胶,密闭容器抽真空,芯片背面与切割胶带之间的水汽被变色硅胶吸附走,从而有效的减少焊接气泡,降低焊接空洞比例。本发明方便加工,操作可靠。
附图说明
图1是本发明的结构示意图,
图中1是密闭容器,2是支架,3是干燥剂,4是温湿度传感器,5是芯片,6真空泵,7是加热腔,8是空气加热器。
具体实施方式
本发明如图1所示,包括密闭容器1,所述密闭容器1内设有支架2、干燥剂3和温湿度传感器4,温湿度传感器便于了解密闭容器内的温度和湿度,便于控制;所述支架2用于放置芯片5,所述密闭容器1连接真空泵6;
所述密闭容器的两侧分别设有加热腔7,所述加热腔7内设空气加热器8,使得密闭容器内升温,加速水汽分子的自由运动,便于吸附。
所述干燥剂3为变色硅胶,吸附性强,吸附芯片上的水汽。
所述密闭容器1上还设有计时器,便于计时,控制时间。
所述温湿度传感器具有一对,其中,一温湿度传感器位于芯片和干燥剂之间,另一温湿度传感器位于芯片的上方,便于观察不同位置的温湿度。
本发明包括以下步骤:1)取划片后待焊接的芯片,放入密闭容器中,同时密闭容器中放入变色硅胶;2)密闭容器抽真空;3)常温放置6h以上,然后取出芯片进行焊接,焊接空洞可以得到明显改善。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造