[发明专利]一种用于磨抛机试样的压紧装置及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及冶金制样领域，更具体地说，涉及一种用于磨抛机试样的压紧装置及其使用方法。

背景技术

传统的金相制样磨抛机已经从手动转变为手持试样在电动磨盘上进行，而现代化企业中已经大量采用自动或半自动磨抛机进行金相样品的制备。使用现有商用(半)自动磨抛机可以大幅提升制样效率，在制备检测分析要求较高的样品制备上具有明显的优势。

在使用自动磨抛机制样过程中，流程得当，通常可以得到符合常规检测要求的试样，但其磨抛面与圆柱体金相样品轴线并不严格垂直，就是说磨抛面与基底平面平行度不良。特别是磨抛厚度减薄明显的样品，或者磨抛时间较长，又或者磨抛压力较大时，试样的磨抛倾斜现象尤为突出，所得样品难以满足精准测试要求。

如图1所示现有磨抛机的压紧装置，设于磨抛机的上压头系统1和下转盘系统2之间，压紧装置包括上压头固定盘3、压杆4、压头5、样件固定盘6和磨抛盘7，上压头固定盘3与上压头系统1相连，磨抛盘7与下转盘系统2相连，压杆4的上端连于上压头固定盘3上，压杆4的下端与压头5相连，样件固定盘6悬于磨抛盘7上。样件固定盘6和压杆4受上压头系统1控制可实现各自的上下升降，工作状态下样件固定盘6贴近磨抛盘7而压头5将压紧样件，空闲状态下样件固定盘6收回而压头5将缩进上压头固定盘3。

通过对现有压紧装置的受力分析和运动过程分析，可知试样底部受周期性外部激励力，由于机械间隙的存在，试样在抛磨过程中实际的运动为围绕中心轴的摆动运动，而摆动的结果就是试样抛磨目标面不平整，随着磨抛盘的速度和摩擦力振动，一旦该振动与系统发生共振，工况将更糟糕。

发明内容

针对现有技术中存在的上述缺陷，本发明的目的是提供一种用于磨抛机试样的压紧装置及其使用方法，能够消除磨抛机在试样过程中的振动模态，从而提高了金相试样制备的成功率。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一方面，一种用于磨抛机试样的压紧装置，设于磨抛机的上压头系统和下转盘系统之间，压紧装置包括上压头固定盘、压杆、压头、样件固定盘和磨抛盘，上压头固定盘与上压头系统相连，磨抛盘与下转盘系统相连，压杆的上端连于上压头固定盘上，压杆的下端与压头相连，样件固定盘悬于磨抛盘上，并设于压头的下方，受上压头系统控制。所述的压杆的下端通过弹簧机构与压头相连，弹簧机构包括上盖板、压紧弹簧和橡胶弹簧，上盖板设于橡胶弹簧的上端，橡胶弹簧通过上盖板与压杆的下端相连，压紧弹簧设于橡胶弹簧的内部，橡胶弹簧的下端与压头相连，所述的样件固定盘上还设有数个减振条。

所述的减振条设于样件固定盘的样件固定孔上。

所述的样件固定孔上设有四个减振条。

所述的减振条为橡胶或塑料材质制成。

所述的压头为不锈钢或铝合金材质制成。

所述的压紧弹簧采用钢质弹簧。

另一方面，一种用于磨抛机试样的压紧装置的使用方法，包括以下步骤：

S1.根据试样的性能和要求，选择相应的减振条、弹簧机构和压头，将压紧装置与压力气缸连通；

S2.将试样固定置于样件固定盘的样件固定孔中；

S3.驱动压紧装置将试样压住，启动上下磨抛盘进行相对转动；

S4.按照每种试样的性能和要求设置磨抛机参数进行制样，获得上下表面平行的测试样品；

S5.将制备好的试样进行测试分析，得出分析结果。

在上述的技术方案中，本发明所提供的压紧装置稳定性高，重现性好，使金相试样制备成功率达到100％，得到上下表面完全平行的试样，可以进行各种精准的金相分析，特别适用于扫描电子显微镜、光学显微镜及显微硬度计等自动分析。

附图说明

图1是现有磨抛机的压紧装置结构示意图；

图2是本发明的结构示意图；

图3是图2中a部位的放大图；

图4是本发明中样件固定盘的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例进一步说明本发明的技术方案。