[发明专利]一种片上差分时延测量系统及回收集成电路识别方法有效
申请号: | 201610686018.0 | 申请日: | 2016-08-18 |
公开(公告)号: | CN106291324B | 公开(公告)日: | 2018-10-02 |
发明(设计)人: | 王晓晓;焦鹏远;苏东林;陈爱新 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 高速 集成电路 片上差 分时 测量 系统 回收 识别 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610686018.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。