[发明专利]基于时间域相位展开的应力分析方法

权利要求书

1.一种应力分析方法，适于计算机装置执行，该计算机装置包含处理单元及储存单元，其特征在于，该应力分析方法包含以下步骤：

步骤A：该处理单元自该储存单元存取光谱数据，该光谱数据由光学检测系统通过光弹技术侦测待测物件的干涉条纹图形所产生，该光谱数据包含至少三笔对应于相异波长的光强度信息；

步骤B：该处理单元依据每一光强度信息计算相应的包裹相位信息；

步骤C：该处理单元依据每一包裹相位信息计算相应的包裹应力信息，每一包裹应力信息正比于其相应的该包裹相位信息与该波长的线性函数的乘积；

步骤D：该处理单元依据所述包裹应力信息之间的相对关系择定计算关系式；及

步骤E：该处理单元依据该计算关系式计算相应于所述包裹应力信息的应力值，

其中，于该步骤C中，每一包裹应力信息由下列公式计算：

其中，S_w为该包裹应力信息，λ为该波长，A为与该波长λ独立的线性函数斜率项，B为与该波长λ独立的线性函数截距项，δ_w为该包裹相位信息。

2.如权利要求1所述的应力分析方法，其特征在于：该步骤B中的每一包裹相位信息由对其相应的该光强度信息取反正弦函数运算、反余弦函数运算或反正切函数运算所计算得出。

3.如权利要求1所述的应力分析方法，其特征在于：该步骤D包含以下子步骤：

步骤D-1：该处理单元判断以下条件是否成立，

其中，为对应于第一波长λ₁的第一包裹应力信息，为对应于第二波长λ₂的第二包裹应力信息，为对应于第三波长λ₃的第三包裹应力信息，该第一波长λ₁大于该第二波长λ₂且该第二波长λ₂大于该第三波长λ₃；若该条件成立，则执行以下步骤D-1-1；

步骤D-1-1：该处理单元择定第一计算关系式，该第一计算关系式为：

其中，S为应力值，为对应于该第一波长λ₁的整数级条纹级次。

4.如权利要求3所述的应力分析方法，其特征在于：该步骤D包含以下子步骤：

步骤D-2：该处理单元判断以下条件是否成立，

若该条件成立，则执行以下步骤D-2-1；

步骤D-2-1：该处理单元判断以下条件是否成立，

若该条件不成立，则执行以下步骤D-2-2；

步骤D-2-2：该处理单元择定第二计算关系式，该第二计算关系式为：

其中，为该第二包裹应力信息经第二转换公式计算的第二包裹应力变换信息，为该第三包裹应力信息经该第二转换公式计算的第三包裹应力变换信息，该第二转换公式为：

S″_w＝-S_w

其中，S″_w为该包裹应力信息S_w经转换计算的包裹应力变化信息。

5.如权利要求4所述的应力分析方法，其特征在于：若该步骤D-2-1的判断条件成立，则执行步骤D-2-3；

步骤D-2-3：该处理单元判断以下条件是否成立，

其中，为该第三包裹应力信息经第一转换公式计算的第三包裹应力转换信息，该第一转换公式如下，

S′_w＝2(Aλ+B)-S_w

其中，S′_w为该包裹应力信息S_w经转换计算的包裹应力转换信息；若该条件成立，则执行步骤D-2-4；

步骤D-2-4：该处理单元择定第三计算关系式，该第三计算关系式为：