[发明专利]一种激光大工作距自准直装置与方法有效

专利信息
申请号: 201610639161.4 申请日: 2016-08-07
公开(公告)号: CN106323200B 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 谭欣然;王超;谭久彬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 张伟
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 反射镜 成像系统 自准直 自准直装置 工作距离 技术优势 工作距 准直镜 反馈 激光 测量 角度测量系统 精密测量技术 被测物表面 测量系统 测量装置 反射光束 光学工程 角度变化 角度偏转 快速测量 稳定测量 像面中心 被测物 反射光 再利用 光源 偏离 制作
【权利要求书】:

1.一种激光大工作距自准直装置,其特征在于,包括光源(1)、透射式准直镜(21)、反射镜(3)、以及反馈成像系统(6),所述反射镜(3)上设置有角度调整测量装置(4);光源(1)出射的光束,经过透射式准直镜(21)准直成平行光束后,再由反射镜(3)反射,入射到被测物(5)的表面;从被测物(5)表面反射的光束,再经过反射镜(3)反射后,由反馈成像系统(6)采集成像;

所述反馈成像系统(6)为以下两种形式中的一种:

第一、设置在光源(1)与透射式准直镜(21)之间,包括第一反馈分光镜(61)和设置在透射式准直镜(21)焦点处的图像传感器(65);从被测物(5)表面反射的光束,再经过反射镜(3)反射后,先后经过透射式准直镜(21)透射、第一反馈分光镜(61)反射、由图像传感器(65)采集成像;在被测物(5)表面与光轴垂直的条件下,图像传感器(65)所成点像在像面中心位置;

第二、设置在透射式准直镜(21)与反射镜(3)之间,包括第一反馈分光镜(61)、第一反馈物镜(63)和设置在透射式准直镜(21)焦点处的图像传感器(65);从被测物(5)表面反射的光束,再经过反射镜(3)反射后,先后经过第一反馈分光镜(61)反射、第一反馈物镜(63)透射、由图像传感器(65)采集成像;在被测物(5)表面与光轴垂直的条件下,图像传感器(65)所成点像在像面中心位置;

所述角度调整测量装置(4)包括设置在反射镜(3)上的角度调整装置、角度偏转测量装置、以及万向轴(43),角度调整装置包括第一驱动器(411)和第二驱动器(412);第一驱动器(411)与万向轴(43)的连线垂直第二驱动器(412)与万向轴(43)的连线;角度偏转测量装置为共光路自准直仪(429);

还包括波前探测系统(7)和波前补偿系统(8);

所述波前探测系统(7)为以下三种情况中的一种:情况一、包括波前探测分光镜(71)和空气扰动波前探测器(72);情况二、包括波前探测分光镜(71)和反射镜形变波前探测器(73);情况三、包括波前探测分光镜(71)、空气扰动波前探测器(72)和反射镜形变波前探测器(73);所述波前探测分光镜(71)设置在反射镜(3)与被测物(5)之间,空气扰动波前探测器(72)设置在波前探测分光镜(71)的反射光路上,反射镜形变波前探测器(73)设置在反射镜(3)的二次反射光路上;

所述波前补偿系统(8)包括补偿光源(81)、补偿准直镜(82)、以及透射式液晶空间光调制器(83);补偿光源(81)出射的光束,经过补偿准直镜(82)准直成平行光束后,再由透射式液晶空间光调制器(83)调制,入射到波前探测分光镜(71)上。

2.一种在权利要求1所述激光大工作距自准直装置上实现的激光大工作距自准直方法,要求波前探测系统(7)仅包括波前探测分光镜(71)和空气扰动波前探测器(72);

其特征在于,包括以下步骤:

步骤a、选取表面垂直于光轴方向的参考物;

步骤b、点亮光源(1),将步骤a所选择的参考物分别放置在工作位置A和近工作位置B,空气扰动波前探测器(72)分别得到GA和GB两组数据;

步骤c、G1=GA-GB,得到空气扰动造成的波前变化;

步骤d、按照f5(G1)调整透射式液晶空间光调制器(83)参数,点亮补偿光源(81),补偿空气扰动,f5表示1个函数;

步骤e、图像传感器(65)成像,得到点像偏离像面中心位置Δx和Δy;

步骤f、利用第一驱动器(411)和第二驱动器(412)调整反射镜(3)角度,使图像传感器(65)所成点像回到像面中心位置;

步骤g、通过共光路自准直仪(429)得到反射镜(3)的角度变化Δθ和进而得到被测物(5)表面的角度变化Δα和Δβ;其中,和f3、f4表示2个函数。

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