[发明专利]对象自动校正方法及其自动校正检测装置有效
| 申请号: | 201610597071.3 | 申请日: | 2016-07-27 |
| 公开(公告)号: | CN107155058B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
| 发明(设计)人: | 邹嘉骏;方志恒;古振男 | 申请(专利权)人: | 由田新技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;G01D21/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张晶;王莹 |
| 地址: | 中国台湾新北市中*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 对象 自动 校正 方法 及其 检测 装置 | ||
本发明公开一种对象自动校正方法及其自动校正检测装置。该方法包含下列步骤:利用摄像单元获取待测对象以产生多个影像;利用摄像单元的合焦范围进行X轴向及Y轴向的粗调整;根据待测对象沿Y轴向排列的特征并形成假想线,并依据假想线偏离Y轴的倾斜度转动摄像单元的Z轴向角度;根据出Y轴向上的特征以获得第一尺寸差异趋势,并据以转动摄像单元的X轴向角度;以及根据X轴向上的特征以获得第二尺寸差异趋势,并据以转动摄像单元的Y轴向角度;以及调整摄像单元的焦距,使待测对象的多个特征的数量与摄像单元的感光组件符合映射值。本发明由此可快速地使待测对象对准于摄像单元,从而进行如光学检测等应用。
技术领域
本发明是关于一种应用自动光学检测的对象自动校正方法及其自动校正检测装置。
背景技术
在现有的显示面板的光学检测中,大多须先进行校正动作,以使显示面板正对于光学检测的摄像单元,由此以排除显示面板未正对于摄像单元时所可能产生的摩尔纹(Moiré pattern),其原因在于若摄像单元时所获取的影像产生摩尔纹时可能造成显示面板的误判定。
在现有的上述校正动作,大多使用人为方式进行。举例来说,先将显示面板固定于工作台上,并透过显示单元观看摄像单元时所获取的影像,再依据人为判断方式手动的调整摄像单元的位置。此种人为校正的方式往往须花费许多的时间来进行。另外,由于为人为进行判断校正,因此不同的校正人员,其所校正出的结果亦不相同,从而产生了校正标准的再现性问题。此外,对于培养出一个可适当进行校正的校正人员亦须花费许多的时间及人力。
综观前所述,本发明设计了一种对象自动校正方法及其自动校正检测装置,以针对现有技术的缺失加以改善,进而增进产业上的实施利用。
发明内容
有鉴于上述现有技术的问题,本发明的目的就是在于提供一种对象自动校正方法及其自动校正检测装置,以改善上述现有技术所产生的问题。
根据本发明的目的,提供一种对象自动校正方法,以应用于摄像单元对准于待测对象,其包含下列步骤:利用摄像单元获取固定于工作台的待测对象以获得多个影像;使摄像单元对焦于待测对象,并依据影像中整体的对焦值与局部的对焦值使摄像单元于X轴向及Y轴向位移,使摄像单元的感光组件与待测对象之间呈平行对位关系;根据待测对象沿Y轴向排列的多个特征以形成假想线,并依据假想线偏离Y轴的倾斜度转动摄像单元的Z轴向的角度,以使倾斜度趋近于0;根据待测对象沿Y轴向排列的多个特征以获得的多个特征的第一尺寸差异趋势,并依据第一尺寸差异趋势转动摄像单元的X轴向的角度,以使第一尺寸差异趋势趋近于0;根据待测对象沿X轴向排列的多个特征以获得的多个特征的第二尺寸差异趋势,并依据第二尺寸差异趋势转动摄像单元的Y轴向的角度,以使第二尺寸差异趋势趋近于0;以及调整摄像单元的焦距,使待测对象沿X轴及Y轴向排列的多个特征的数量与该摄像单元的感光组件符合映像(Mapping)值。
优选地,依据影像中整体的对焦值与局部的对焦值使摄像单元于X轴向及Y轴向位移,进一步包含下列步骤:以使影像中整体的对焦值与局部的对焦值的差异趋近于0,进而影像中待测对象皆于摄像单元的合焦范围内。
优选地,所述使摄像单元对焦于待测对象的步骤的后进一步可包含下列步骤:调整摄像单元的焦距并使摄像单元于Z轴位移,以局部取样待测物件,而使沿X轴及Y轴向排列的多个特征的数量与摄像单元的感光组件符合映射值范围,进而使摄像单元的感光组件与待测对象在XY象限上对准。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于由田新技股份有限公司,未经由田新技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610597071.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像读取装置和控制方法
- 下一篇:拍照控制方法及装置、终端及存储介质





