[发明专利]数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法

说明书

本发明涉及一种数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法，所述数据储存媒体包括有多个数据行。所述方法包括下列步骤：a)以多个损坏数据行群组来标注或记录多个损坏数据行，上述损坏数据行系选自于上述数据行，每一损坏数据行群组标注或记录损坏数据行之位置及损坏数据行之数目；b)判断是否有至少一损坏数据行未标注或记录于上述损坏数据行群组，其中，至少一损坏数据行未包含于上述损坏数据行；c)当判断为是时，将任二个相隔P个数据行的损坏数据行标注或记录于上述损坏数据行群组，其中P为正整数；以及d)调整P的数值并执行步骤b。

技术领域

本发明涉及一种数据储存媒体的相关技术，且特别是关于一种数据储存媒体的损坏数据行的筛选方法。

背景技术

数据储存装置，例如是固态硬盘(solid state drive，SSD)、SD记忆卡(securedigital memory card)或闪存碟(U盘)等，主要由控制单元与数据储存媒体所构成，而其中数据储存媒体又是由多个用以储存数据的数据行(column)所构成。

在数据储存装置的制造过程中，难免会生产出次级品，而这些次级品在贩卖给使用者之前，都要先将数据储存媒体中的损坏数据行(bad column)筛选出来并记录在损坏数据行总表中。据此，控制单元在往后的操作中，便不会再对记录的损坏数据行存取数据，进而避免存取的数据发生错误。

然而，旧有的标注或记录方式乃是对损坏数据行一个一个地标注或记录，然而，损坏数据行的标注或记录的数量有其限制(例如最多可标注254个)，因此若是数据储存媒体的瑕疵程度较严重，因而具有超过可标注数量的损坏数据行，且可标注的数量也用完时，那么数据储存媒体中尚未标注的损坏数据行便可能消耗错误校正码(error correctingcode，ECC)的校正能力(例如可校正44个比特(bit))，造成原本可以校正的数据无法被适当的校正。

发明内容

因此，本发明的目的在提供一种数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法，使用此新筛选方法可以将邻近的损坏数据行合并成损坏数据行群组，并以群组的方式来标注，因此在相同的标注数量限制下可标注更多的损坏数据行。

本发明提出一种数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法，所述之数据储存媒体包括有多个数据行，而所述之筛选方法包括有下列步骤：a)以多个损坏数据行群组来标注或记录多个损坏数据行，上述损坏数据行系选自于上述数据行，每一损坏数据行群组标注或记录损坏数据行之位置及损坏数据行之数目；b)判断是否有至少一损坏数据行未标注或记录于上述损坏数据行群组，其中，至少一损坏数据行未包含于上述损坏数据行；c)当判断为是时，将任二个相隔P个数据行的损坏数据行标注或记录于上述损坏数据行群组，其中P为正整数；以及d)调整P的数值并执行步骤b。

本发明之筛选方法系将邻近的损坏数据行合并成损坏数据行群组，并以群组的方式来标注，因此在相同的标注数量限制下可标注更多的损坏数据行。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举优选实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1为依照本发明一实施例之数据储存媒体的示意图。

图2为依照本发明一实施例之数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法的流程图。

图3为部分之损坏数据行的分布示意图。

图4为依照本发明第二实施例之数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法的流程图。

具体实施方式