[发明专利]光学检测装置及其系统

权利要求书

1.一种光学检测装置，其特征为，该光学检测装置包括：

发光元件，用以产生一检测光线；

光型产生元件，设于该发光元件上方，以接收该发光元件所发出的该检测光线，该光型产生元件更包括：

盘体；

至少一圆孔，其贯穿该盘体的二表面；

至少一圆盘，其内嵌在该圆孔中，以使该圆盘能相对该盘体进行转动，其中，该圆盘具有贯穿其二表面的裂隙，该裂隙供该检测光线通过并用以改变该检测光线的光型；及

至少二第一磁性元件，其分别设置在该圆盘的裂隙的二侧；

以及

光源传递元件，设于该光型产生元件上方并用以传递经改变光型的检测光线，其中，该光源传递元件的一端具有二第二磁性元件；

其中，各该第一磁性元件与各该第二磁性元件磁性连接，俾使该光源传递元件转动时，该圆盘及其裂隙亦能与该光源传递元件一并转动。

2.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征为，该发光元件为发光二极管，该检测光线为可见光或不可见光，且该第一磁性元件及该第二磁性元件为磁铁，且其中，该光源传递元件的另一端具有一用以改变该经改变光型的检测光线的路径的光学透镜，且其中，该光学透镜为分光镜或棱镜，且其中，该光源传递元件中设有透镜组，用以使通过该光源传递元件的光线会聚于该光学透镜。

3.一种光学检测系统，其特征为，该系统包括：

光学检测装置，包括：

发光元件，用以产生一检测光线；

光型产生元件，设于该发光元件上方，以接收该发光元件所发出的该检测光线且用以改变该检测光线的光型；以及

光源传递元件，设于该光型产生元件上方并用以传递经改变光型的检测光线且使其入射至一眼底；

成像装置，用以撷取该眼底所反射的检测光线后所形成一光型影像，以将该光型影像转换成一检测影像资料；

焦距匹配模块，设于该成像装置前方，用以控制该检测影像资料的清晰度；以及

计算单元，电性连接该成像装置以接收该检测影像资料，并分析该检测影像资料是否清晰，若该检测影像资料不清晰，则控制该焦距匹配模块调整焦距，以产生新的检测影像资料供该计算单元再次分析，若该检测影像资料已清晰，则依据该焦距匹配模块使该检测影像资料已清晰的焦距，来获得对应的视力度数。

4.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该计算单元为电脑、手机或平板电脑，该发光元件为发光二极管，该检测光线为可见光或不可见光，且该第一磁性元件及该第二磁性元件为磁铁，且其中，该电性连接为有线连接或无线连接，该成像装置包括互补性氧化金属半导体影像感测器或感光耦合元件影像感测器，且其中，该系统更包括光圈组件，该光圈组件设于该光源传递元件所传递的该经改变光型的检测光线入射至该眼底的路径上，用以控制该经改变光型的检测光线入射至该眼底的光线量。

5.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该焦距匹配模块为矩阵式透镜组，该矩阵式透镜组包括多个聚焦区域，且其中，该多个聚焦区域分别具有不同的焦距。

6.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该焦距匹配模块为内嵌有具有不同焦距的多个透镜的构件，且其中，该构件设于该成像装置前方且利用该多个透镜的一者会聚该光型影像进入该成像装置。

7.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该焦距匹配模块包括至少一电控马达以及一透镜组，该透镜组设于该成像装置前方，以使该光型影像依序通过该透镜组而入射至该成像装置，且其中，该电控马达用以改变该透镜组的总体焦距。

8.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该焦距匹配模块包括一电控马达及一充填式透镜元件，该充填式透镜元件具有由薄膜所形成的腔室，该电控马达用以充填液体至该腔室中，通过液体量的多寡来改变该充填式透镜元件的焦距。

9.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该光源传递元件的另一端具有一用以改变该经改变光型的检测光线的路径的光学透镜，且其中，该光学透镜为分光镜或棱镜，且其中，该光源传递元件中设有透镜组，用以使通过该光源传递元件的光线会聚于该光学透镜，且其中，该分光镜或棱镜能转动一角度而改变该经改变光型的检测光线所入射至该眼底的位置，俾使该计算单元分析该角度及该检测影像资料的相对关系来获得视力度数。

10.如权利要求3所述的光学检测系统，其特征为，该光型产生元件更包括：

盘体；

至少一圆孔，其贯穿该盘体的二表面；

至少一圆盘，其内嵌在该圆孔中，以使该圆盘能相对该盘体进行转动，其中，该圆盘具有贯穿其二表面的裂隙，该裂隙供该检测光线通过并用以改变该检测光线的光型；以及

至少二第一磁性元件，其分别设置在该圆盘的裂隙的二侧；

其中，该光源传递元件的一端具有二第二磁性元件，且其中，各该第一磁性元件与各该第二磁性元件磁性连接，当该光源传递元件转动时，该圆盘及其裂隙亦能与该光源传递元件一并转动，以使该光源传递元件所传递的该经改变光型的检测光线入射至该眼底。