[发明专利]测量嵌入式存储器数据读取时间的方法及系统

说明书

本发明提供一种测量嵌入式存储器数据读取时间的方法及系统。所述方法包括：内建自动测试控制器接收外部测试机台发送的复位信号，发送初始频率调整配置位至锁相环，发送参考数据至数据比较器；锁相环产生锁相环时钟信号；时钟分频器产生存储器工作的时钟信号和数据锁存器工作的时钟信号；数据锁存器接收存储器的初始读取数据，输出存储器的初始读出数据送往数据比较器；数据比较器比较参考数据和初始读出数据，若一致，发送测试通过信号至外部测试机台；外部测试机台发送新的复位信号；重复前述过程直到参考数据和存储器的读出数据不一致为止，存储器的数据读取时间为最新的锁相环时钟信号周期的一半。本发明能够减小芯片面积，降低芯片的成本。

技术领域

本发明涉及嵌入式存储器技术领域，尤其涉及一种测量嵌入式存储器数据读取时间的方法及系统。

背景技术

现有的内建测量电路量测嵌入式存储器数据读取时间的方法是：测试机台预先设置好测试模式，启动时序测试模式，芯片内部对被选中的嵌入式存储器的所有或者某些地址对应的存储单元进行写入数据操作，然后对被写入过数据的存储单元进行读操作，通过外部机台变更时延电路的可选位，从而调节内部时延电路，以控制时钟进入存储器的时间与数据锁存器抓取存储器数据输出的时间，从存储器时钟上升沿开始到锁存器抓取到正确的存储器读取数据为止的时间段就是嵌入式存储器的数据读取时间。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

尽管内建时延电路量测嵌入式存储器的数据读取时间的方法能够做到较高精度，但是由于需要在每个被量测的存储器实例周边放置一个或多个时延电路，一旦被量测的存储器实例数量较多(通常一个片上系统中嵌入式存储器的数量少到几百个，多到成千上万个)，所耗费的芯片面积会很大。

发明内容

本发明提供的测量嵌入式存储器数据读取时间的方法及系统，能够减小芯片面积，降低芯片的成本。

第一方面，本发明提供一种测量嵌入式存储器数据读取时间的系统，包括：内建自动测试控制器、锁相环、时钟分频器、数据锁存器和数据比较器，其中，

所述内建自动测试控制器，用于接收外部测试机台发送的复位信号，产生初始频率调整配置位，并将所述初始频率调整配置位发送给锁相环，将产生的参考数据发送给数据比较器；

所述锁相环，用于产生供内建自动测试控制器和时钟分频器共同使用的锁相环时钟信号；

所述时钟分频器，用于根据锁相环时钟信号产生用于存储器工作的时钟信号和用于数据锁存器工作的时钟信号，当所述用于存储器工作的时钟信号为上升沿时，存储器获得初始读取数据；

所述数据锁存器，用于接收存储器的初始读取数据和数据锁存器工作的信号，当用于数据锁存器工作的时钟信号为上升沿时，将存储器的初始读取数据锁住，输出为存储器的初始读出数据后，送往数据比较器；

所述数据比较器，用于将参考数据和存储器的初始读出数据做比较，若二者一致，发送测试通过信号至外部测试机台和内建自动测试控制器；

所述内建自动测试控制器，还用于接收数据比较器发送的测试通过信号，将所述初始频率调整配置位调整后，重新发送给锁相环，所述锁相环、所述时钟分频器、所述数据锁存器和数据比较器还用于重复执行前述动作，直到所述参考数据和存储器的读出数据不一致为止，此时存储器的数据读取时间即为最新的锁相环时钟信号周期的一半。

可选地，所述数据比较器，还用于当参考数据和存储器的初始读出数据做比较的结果为不一致时，发送测试未通过信号至外部测试机台和内建自动测试控制器；

所述内建自动测试控制器，还用于接收数据比较器发送的测试未通过信号，将所述初始频率调整配置位调整后，重新发送给锁相环；