[发明专利]一种基于双PEM的中红外波片位相延迟精确测量方法

权利要求书

1.一种基于双PEM的中红外波片位相延迟精确测量方法，其特征在于：将中红外激光器、起偏器、PEM1调制器、被测中红外波片、PEM2调制器、检偏器、红外点探测器依次排列构成测量光路，双PEM驱动控制电路将PEM1调制器和PEM2调制器差频调制降低调制频率，使红外点探测器可进行有效探测，并将差频信号提供给数字锁相放大器，数字锁相放大器对红外点探测器获得的调制信号进行锁相放大，获得锁相频率信号的幅值，最后通过计算机数据处理获得被测中红外波片的位相延迟；

所述获得锁相频率信号的幅值包括未放入被测中红外波片时获得的幅值和加入被测中红外波片后获得的幅值；

在未放入被测中红外波片时，通过测量光路获得1倍差频幅值和2倍差频幅值在加入被测中红外波片后，通过测量光路获得1倍差频幅值和2倍差频幅值结合未放入的被测中红外波片和放入被测中红外波片的1倍差频幅值和2倍差频幅值可准确获得被测中红外波片位相延迟，以克服PEM1调制器和PEM2调制器的调制相位延迟幅值δ_0PEM1和δ_0PEM2无法精确测量的缺陷；

具体为：

步骤1、首先在未放置被测中红外波片时测得：

步骤2、加入被测中红外波片测得1倍差频幅值和2倍差频幅值

步骤3、由得到被测中红外波片位相延迟；

上述中，f ₁ 和 f ₂ 分别为PEM1调制器和PEM2调制器的调制驱动频率。

2.根据权利要求1所述的一种基于双PEM的中红外波片位相延迟精确测量方法，其特征在于：将1倍差频幅值和2倍差频幅值相除来消除中红外光源自身不稳对测量的影响。

3.根据权利要求1所述的一种基于双PEM的中红外波片位相延迟精确测量方法，其特征在于：所述PEM1调制器和PEM2调制器的弹光晶体采用硒化锌晶体。