[发明专利]基于变去除函数的射流抛光面形误差控制方法有效

专利信息
申请号: 201610547669.1 申请日: 2016-07-13
公开(公告)号: CN106181741B 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 樊炜;张连新;柯瑞;吴祉群;高浪;蓝河;张云飞;丁颖;孙鹏飞 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
主分类号: B24B31/116 分类号: B24B31/116;B24B51/00;B24C3/32;G05B19/4099
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 基于 去除 函数 射流 抛光 误差 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种基于变去除函数的射流抛光面形误差控制方法,依次包括如下步骤:

(1)获取抛光工艺的去除函数:给定采斑时间,将喷嘴与轴线倾斜θ角度、并以角速度绕轴线回转喷嘴,获取多组不同的工艺参数下的抛光斑,通过拟合建立去除函数工艺参数η与去除函数形态之间的映射关系:

其中,令,为常数,是以抛光斑中心为原点的坐标系下的面形位置坐标;

(2)检测面形误差分布:采用干涉仪测量待加工光学镜面的面形误差分布,将检测得到的面形误差分布记为;

(3)建立抛光工艺的加工过程模型:在所述的光学镜面上等距选取个加工轨迹点,第个加工轨迹点的坐标记为,设第个加工轨迹点的驻留时间为,按顺序形成驻留时间向量;同时选取个加工控制点,第个加工控制点的坐标记为,各加工控制点的期望去除量为,按顺序形成期望去除量向量;加工控制点的材料去除量为,所有的按顺序组成材料去除向量,加工模型为,其中是的影响矩阵,其第行第列元素为;设射流抛光的工艺参数的上限为,下限为,计算在下的影响矩阵;

(4)求解工艺参数实现变去除函数修形:设机床最大速度为,通过内点法,求解如下的二次规划问题获得下的驻留时间:

subjected to

计算匀速抛光时各轨迹点间的时间, 计算驻留时间释放比;记为第个轨迹点处的工艺参数,求解方程在区间的实根,若方程的根小于,取,若方程的根大于,取;

(5)通过数控加工控制面形精度:生成包含刀具轨迹点、进给速度、各轨迹点对应的工艺参数的数控程序,将数控程序加载到带工艺参数控制的数控系统中执行加工,利用干涉仪测量加工后的面形,如果精度满足要求,则完成抛光;否则返回至步骤(2)。

2.根据权利要求1所述的基于变去除函数的射流抛光面形误差控制方法,其特征在于:所述的工艺参数为喷嘴压强。

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