[发明专利]X射线摄像装置有效

专利信息
申请号: 201610539231.9 申请日: 2016-07-08
公开(公告)号: CN106388839B 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 坂井友治 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 范胜杰;赵宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 被摄体 设备信息取得部 摄像部 摄影条件 预先登记 植入设备 问诊 感测 植入 照射 透视
【权利要求书】:

1.一种X射线摄像装置,其特征在于,具备:

摄像部,其具备X射线源和X射线检测器,取得被摄体的X射线图像;

设备信息取得部,其取得与能够植入到上述被摄体中的设备有关的信息;

判定部,其根据上述设备信息取得部取得的信息,判定植入到上述被摄体中的设备的有无;

控制部,其根据上述判定部的判定结果,控制上述摄像部,并控制透视时的X射线照射条件和/或摄影条件,其中,

上述X射线摄像装置还具备:图像处理部,其从上述被摄体的X射线图像取得与上述设备有关的信息,

上述设备信息取得部从上述图像处理部取得与上述设备有关的信息,以及

计算部,其计算上述被摄体的X射线图像中的预定部位的位置变动,

上述判定部使用上述计算部计算出的位置变动,来判定上述被摄体中是否植入有上述设备。

2.根据权利要求1所述的X射线摄像装置,其特征在于,

上述控制部在上述判定部判定为上述被摄体中植入有上述设备时,将透视时的X射线照射条件设定为非脉冲照射模式。

3.根据权利要求1所述的X射线摄像装置,其特征在于,

上述设备信息取得部取得来自对上述被摄体的状态进行测量的外部测量装置的测量结果,上述判定部根据上述测量结果来判定被摄体中是否植入有上述设备。

4.根据权利要求1所述的X射线摄像装置,其特征在于,

上述X射线摄像装置还具备:摄影条件限制设定部,其对摄影条件的限制进行设定/解除,

上述摄影条件限制设定部在上述判定部判定为上述被摄体中植入有上述设备时,设定上述摄影条件的限制。

5.一种X射线摄像装置,其特征在于,具备:

摄像部,其具备X射线源和X射线检测器,取得被摄体的X射线图像;

设备信息取得部,其取得与能够植入到上述被摄体中的设备有关的信息;

判定部,其根据上述设备信息取得部取得的信息,判定植入到上述被摄体中的设备的有无;

检测部,其使用上述被摄体的X射线图像来检测植入到被摄体中的设备;

控制部,其根据上述检测部检测出的上述设备的信息,控制对被摄体的X射线照射位置和/或X射线照射范围,其中,

上述X射线摄像装置还具备:图像处理部,其从上述被摄体的X射线图像取得与上述设备有关的信息,

上述设备信息取得部从上述图像处理部取得与上述设备有关的信息,以及

计算部,其计算上述被摄体的X射线图像中的预定部位的位置变动,

上述判定部使用上述计算部计算出的位置变动,来判定上述被摄体中是否植入有上述设备。

6.根据权利要求5所述的X射线摄像装置,其特征在于,

上述摄像部具备:X射线光圈,其调整从上述X射线源照射的X射线的范围,

上述控制部调整上述X射线光圈,来控制上述X射线照射位置和/或X射线照射范围。

7.根据权利要求5所述的X射线摄像装置,其特征在于,

上述控制部使上述摄像部与上述被摄体之间的相对位置关系变化,来控制上述X射线照射位置和/或X射线照射范围。

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