[发明专利]修整金属膜或金属箔电位器线性精度的方法有效
申请号: | 201610458115.4 | 申请日: | 2016-06-22 |
公开(公告)号: | CN105957669B | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 高仲民;刘增明;陈康;王丹;欧阳宏 | 申请(专利权)人: | 陕西宝成航空仪表有限责任公司 |
主分类号: | H01C17/00 | 分类号: | H01C17/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 | 代理人: | 宋秀珍 |
地址: | 721006*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 修整 金属膜 金属 电位器 线性 精度 方法 | ||
技术领域
本发明属电位器技术领域,具体涉及一种修整金属膜或金属箔电位器线性精度的方法,主要应用于在机电行业以及航空、航天、电子、兵器、船舶等领域的自控系统、仪器、仪表系统作为传感器使用的金属膜、金属箔等各类膜式电位器中。
背景技术
电位器的精度不仅取决于制造零件所选材料的质量,而且还取决于零件机械加工的精度和装配精度,上述诸因素所造成误差的综合影响,只有在装配完成以后,才能最终反映出来。因此,为了提高产品的合格率和进一步提高电位器的精度,一般电位器在装配完成以后,都要进行线性精度修整。而现有的金属膜或金属箔电位器的电阻体是一个整体结构,其电位器的线性精度完全靠金属膜或金属箔材料本身导电率的均匀性来保证的,对已经做成的金属膜或金属箔电位器的电阻体无法进行线性度的修整,只能从中进行筛选使用,报废量很大,造成金属膜或金属箔电位器的制造成本高,因此有必要提出改进。
发明内容
本发明解决的技术问题:提供一种修整金属膜或金属箔电位器线性精度的方法,在金属膜或金属箔电位器电阻体的设计过程中,采用在电阻体有效工作行程中,设计出带有并联分流电阻电阻体的方法,用增加或减少分流电阻的阻值来调整电位器的线性精度。
本发明采用的技术方案:修整金属膜或金属箔电位器线性精度的方法,包括下述步骤:
1)根据金属膜或金属箔电位器所要求的总电阻值、额定功率、有效电行程、电阻温度系数、线性精度和工作环境技术参数,选择应用适当的电阻带材料,并设计出金属膜或金属箔电位器电阻带的几何形状;
2)在电阻带外缘的有效行程部分并联设置分流电阻,并使分流电阻内的电流密度大于电阻带内的电流密度,以减少由于电阻带的不均匀性对其线性精度的影响;
3)金属膜或金属箔电位器的电阻带设计完成后,用蒸镀或喷溅工艺方法制作成金属膜电阻体,或者采用光绘、制版、光化和腐蚀工艺方法制作成金属箔电阻体,并在装配完成后对金属膜或金属箔电阻体的线性精度进行修整;
4)修整时是根据实际测量电阻体的线性精度与该处理论线性精度的误差,增加或减小该处分流电阻的阻值,使得在该处测量的实际线性精度与该处的理论线性精度一致,按照这个方法,在整个有效电行程内对所有的测量点进行修整,使得整个金属膜或金属箔电位器的线性精度指标满足要求。
本发明与现有技术相比能够对金属膜或金属箔电位器的线性精度进行修整,提高了金属膜或金属箔电位器的制造精度和产品合格率。
附图说明
图1为本发明电阻体结构示意图。
1、电阻带;2、分流电阻;3、引出电极;4、导电带;5、引线;6、间隙
具体实施方式
下面结合附图1描述本发明的一种实施例,修整金属膜或金属箔电位器线性精度的方法,通常电阻体由电阻带1、引出电级3、导电带4和间隙6构成,
1)根据金属膜或金属箔电位器所要求的总电阻值、额定功率、有效电行程、电阻温度系数、线性精度和工作环境技术参数,选择应用适当的电阻带材料,并设计出金属膜或金属箔电位器电阻带1的几何形状;
2)在电阻带1外缘的有效行程部分并联设置分流电阻2,并使分流电阻2内的电流密度大于电阻带1内的电流密度,以减少由于电阻带1的不均匀性对其线性精度的影响;
3)金属膜或金属箔电位器的电阻带1设计完成后,用蒸镀或喷溅工艺方法制作成金属膜电阻体,或者采用光绘、制版、光化和腐蚀工艺方法制作成金属箔电阻体,并在装配完成后对金属膜或金属箔电阻体的线性精度进行修整;
4)修整时是根据实际测量电阻体的线性精度与该处理论线性精度的误差,增加或减小该处分流电阻2的阻值,使得在该处测量的实际线性精度与该处的理论线性精度一致,按照这个方法,在整个有效电行程内对所有的测量点进行修整,使得整个金属膜或金属箔电位器的线性精度指标满足要求。
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