[发明专利]存储器件及其操作方法有效
申请号: | 201610439739.1 | 申请日: | 2016-06-17 |
公开(公告)号: | CN106816180B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 金泰均;赵真熙;崔俊基 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C29/50 | 分类号: | G11C29/50;G11C11/406;G06F11/16 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 李少丹;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 器件 及其 操作方法 | ||
1.一种存储器件,包括:
多个存储单元;
一个或更多个备份存储单元;
测试电路,适用于:响应于刷新命令,通过以与测试行地址相对应的测试目标单元为单位对在所述多个存储单元之中选中的测试目标单元顺序地执行备份操作、测试操作和更新操作;以及
控制电路,适用于:在测试操作期间,当与激活命令对应的输入地址与所述测试目标单元的地址相同时访问备份存储单元,
其中,在备份操作期间,测试电路控制控制电路,以将测试目标单元的原始数据复制至在备份存储单元之中选中的对应备份存储单元,以及
其中,在测试操作期间,测试电路判断测试目标单元是通过单元还是故障单元。
2.根据权利要求1所述的存储器件,
其中,在更新操作期间,测试电路控制控制电路,以将所述对应备份存储单元的原始数据返回至测试目标单元。
3.根据权利要求1所述的存储器件,其中,测试电路通过以下步骤来执行测试操作:将参考数据写入至测试目标单元中;在写入参考数据之后的特定时间读取测试目标单元的测试数据;以及当测试数据不同于参考数据时,将测试目标单元确定为故障单元。
4.根据权利要求1所述的存储器件,其中,控制电路还执行刷新操作,使得在测试操作期间被确定为故障单元的存储单元中的一个或更多个存储单元以比其它存储单元高的频率来刷新。
5.根据权利要求1所述的存储器件,其中,控制电路将测试目标单元的地址储存为第一地址,以及当测试目标单元被确定为故障时,将测试目标单元的地址储存为第二地址。
6.根据权利要求5所述的存储器件,
其中,当所述输入地址与第一地址相同时,控制电路控制对备份存储单元的访问,以及
其中,在刷新时段期间,控制电路根据第二地址对被确定为故障单元的一个或更多个存储单元执行额外的刷新操作,而根据正常刷新计数地址对所述多个存储器单元执行正常刷新操作。
7.根据权利要求6所述的存储器件,其中,每当正常刷新操作被执行预定次数时,控制电路执行额外的刷新操作。
8.根据权利要求6所述的存储器件,其中,当在第二地址与当前正常刷新操作的正常刷新计数地址之间预定数目的位相同时,控制电路执行额外的刷新操作。
9.一种存储器件的操作方法,所述存储器件包括多个存储单元和一个或更多个备份存储单元,所述操作方法包括:
执行备份操作,以将所述多个存储单元之中的测试目标单元的原始数据复制至备份存储单元中的一个对应备份存储单元;
执行测试操作,以判断测试目标单元是通过单元还是故障单元;
在测试操作期间,当与激活命令对应的输入地址与所述测试目标单元的地址相同时控制备份存储单元被访问;以及
执行更新操作,以将所述对应备份存储单元的原始数据返回至测试目标单元,
其中,响应于刷新命令,通过以与测试行地址相对应的测试目标单元为单位,所述备份操作、测试操作和更新操作被顺序地执行。
10.根据权利要求9所述的操作方法,其中,测试操作包括将参考数据写入至测试目标单元中;在写入参考数据之后的特定时间读取测试目标单元的测试数据;以及当测试数据不同于参考数据时将测试目标单元确定为故障单元。
11.根据权利要求9所述的操作方法,还包括:执行刷新操作,使得在测试操作期间被确定为故障单元的存储单元中的一个或更多个存储单元以比其它存储单元高的频率来刷新。
12.根据权利要求9所述的操作方法,
其中,执行备份操作包括将测试目标单元的地址储存为第一地址,以及
其中,执行测试操作包括当测试目标单元被确定为故障时将测试目标单元的地址储存为第二地址。
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