[发明专利]一种大口径光栅衍射效率的测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 201610427140.6 申请日: 2016-06-16
公开(公告)号: CN106124166B 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 邵建达;刘世杰;王圣浩;王微微;张志刚;周游;徐天柱;鲁棋 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 大口径光栅 衍射效率 测量 二维扫描机构 测量装置 参考光探测器 垂直方向扫描 光纤测量头 安全隐患 测量过程 测量数据 测量系统 传输光纤 单个位置 参考光 测量光 测试光 单色器 分束镜 复现性 位置处 衍射光 样品台 探测器 构建 光源 参考 保证
【说明书】:
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