[发明专利]自生自储油气层孔隙度测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及页岩储层勘探的技术领域，更具体地说，本发明涉及一种自生自储油气层孔隙度测量方法。

背景技术

在现有技术中，油气储层孔隙度定量评价方法是根据威力(Wyllie)公式或者测井曲线多元拟合建立起来的。威力公式为：

式中，φ－孔隙度，小数；Logma、Logf－分别为岩石骨架声波、密度或中子值，地层流体声波、密度或中子值；单位分别为us/m，g/cm³，％；Log－目的层声波、密度或中子测井值，单位分别为us/m，g/cm3，％。

多元拟合的方法是在选择2条或以上测井曲线作为变量建立一个多元方程，公式为：

φ＝a×Log₁+b×Log₂+...+n×Log_n(2)

式中，φ－孔隙度，小数；Log1、Log2、Logn－分别为岩石某测井值；a、b、c－系数，无量纲。

在常规砂岩储层中，声波测井、密度测井、中子孔隙度测井(Log)主要反映地层孔隙度的变化，此时储层孔隙度可以利用上述两类公式精确计算出来。但是，在自生自储、有机质含量高的页岩储层中，有机质与孔隙对测井曲线的影响相同，测井曲线的异常是孔隙度与有机质共同作用的结果。受有机质的影响，通过常规的方法往往会过高计算地层真实的孔隙度，很难满足当前勘探开发的需求，因此准确的获得测井曲线孔隙度异常值，是解决页岩气储层孔隙度定量评价方法之一。

有机质含量越高对孔隙度计算精度的影响越大，所以去除有机质的影响建立高精度模型显得尤为重要。目前，为建立精确的孔隙度模型是将有机质含量较多地方实测的孔隙度数据删除，或者根据有机质含量的不同进行分级，进而采用不同的拟合方法。尽管此方法可以在一定程度上满足实际研究的需求，但是并没有给出彻底解决有机质的影响的普适性方法，这样就不利于高精度孔隙度模型的建立。

发明内容

为了解决现有技术中的上述技术问题，本发明的目的在于提供一种自生自储油气层孔隙度测量方法。

为了实现上述发明目的，本发明采用了以下技术方案：

一种自生自储油气层孔隙度测量方法，其特征在于包括以下步骤：

1)通过岩石热解实验测量镜质体反射率Ro，确定非烃源岩的位置，得到非烃源岩岩石的电阻率Rt_基线和声波时差基线△t_基线；

2)利用△lgR方法确定岩石中有机碳含量TOC：

ΔlgR＝lg(Rt/Rt_基线)+0.02×(Δt-Δt_基线)(1)

式中Rt为岩石电阻率，Rt_基线为非烃源岩泥岩段电阻率，△t为岩石声波时差值，△t_基线为非烃源岩泥岩段声波时差值，Ro为镜质体反射率；

3)根据式3，求出岩石中有机质的体积百分比，

式3中：TOC，有机碳含量；ρ_b，地层的体积密度；ρ_k，有机质的密度；γ是转换因子，根据不同的成岩作用阶段、不同的干酪根类型取不同的值；

4)选择两组XRD测试中矿物成分相同、孔隙度相等，但是TOC测试数据不同的岩芯数据；假定岩芯由有机质与非有机质两部分组成，假设岩芯中去除有机质后的测井值为log_nk，体积为V_nk，有机质的测井值为log_k，体积为V_k，那么存在有机质的测井值即为：

log＝log_k×V_k+log_nk×V_nk(4)

其中：

V_nk+V_k＝1(5)

式中：log为岩石测井响应值，log_k为有机质的测井响应特征值，log_nk为非有机质的测井响应特征值；

5)根据步骤4)可以得到有机质的测井响应特征值为：

6)通过公式(6)确定有机质的测井响应特征值，再根据岩石体积物理模型对测井曲线进行校正：

log_c为校正后的测井曲线，其中V_k由公式(3)得到；