[发明专利]一种导弹质量质心与外形尺寸一体化测量装置有效

专利信息
申请号: 201610389866.5 申请日: 2016-06-03
公开(公告)号: CN106091847B 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 易涛;李荣梧;杨崇斌;苏艳;申康;刘辉 申请(专利权)人: 西安百纳电子科技有限公司
主分类号: F42B35/02 分类号: F42B35/02
代理公司: 西安创知专利事务所61213 代理人: 李艳春
地址: 710072 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 导弹 质量 质心 外形尺寸 一体化 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种导弹质量质心与外形尺寸一体化测量装置,其特征在于:包括底座(1)以及固定连接在底座(1)顶部的工作台板(3)和升降装置组件(13),所述工作台板(3)上沿底座(1)的长度方向安装有四根测量组件直线导轨(21),四根所述测量组件直线导轨(21)上通过与测量组件直线导轨(21)滑动连接的测量组件滑块(20)连接有四个外径测量组件(8)和四个翼展舵展测量组件(9),所述工作台板(3)沿底座(1)长度方向的一端固定连接有弹头测量组件(4),所述工作台板(3)沿底座(1)长度方向的另一端固定连接有尾部测量组件(17);所述升降装置组件(13)包括升降底板(13-1)以及安装在升降底板(13-1)上的升降机(13-18)和用于测量质量和质心的称重传感器(13-19),所述升降机(13-18)顶部设置有升降工作台(18),所述升降工作台(18)上沿底座(1)的长度方向安装有两根托架组件直线导轨(23),两根所述托架组件直线导轨(23)上通过与托架组件直线导轨(23)滑动连接的托架组件滑块(22)连接有两个用于支撑被测量导弹(19)的托架组件(7);所述升降工作台(18)的底部固定连接有用于与称重传感器(13-19)相接触的传感器球头(15);

所述托架组件(7)包括托架(7-1)和固定连接在托架(7-1)顶部的两个托架滚轮座(7-2),所述托架滚轮座(7-2)与托架(7-1)之间设置有测量定位块(7-6),所述托架滚轮座(7-2)上固定连接有深沟球轴承(7-7),所述深沟球轴承(7-7)与托架滚轮座(7-2)之间设置有滚轮隔圈(7-5),所述深沟球轴承(7-7)上安装有滚轮轴(7-3),所述滚轮轴(7-3)上固定连接有滚轮(7-4)。

2.按照权利要求1所述的一种导弹质量质心与外形尺寸一体化测量装置,其特征在于:所述测量组件直线导轨(21)上设置有外径测量组件锁紧块(10)和翼展舵展测量组件锁紧块(2),所述托架组件直线导轨(23)上设置有用于锁定托架组件(7)在托架组件直线导轨(23)上的位置的托架组件锁紧块(6);所述工作台板(3)上设置有测量组件导轨挡块(11),所述升降工作台(18)上设置有托架组件导轨挡块(5)。

3.按照权利要求1所述的一种导弹质量质心与外形尺寸一体化测量装置,其特征在于:所述底座(1)底部连接有多个调平垫块(16)。

4.按照权利要求1所述的一种导弹质量质心与外形尺寸一体化测量装置,其特征在于:所述外径测量组件(8)包括外径测量支架(8-1)以及安装在外径测量支架(8-1)上的外径测量气缸安装板(8-11)、外径测量直线导轨(8-17)和外径测量导轨挡块(8-12),所述外径测量气缸安装板(8-11)上安装有外径测量气缸(8-16),所述外径测量直线导轨(8-17)上滑动连接有外径测量导轨滑块(8-18),所述外径测量气缸(8-16)的活塞杆端部连接有与外径测量导轨滑块(8-18)固定连接的外径测量气缸推动板(8-10),所述外径测量气缸推动板(8-10)顶部固定连接有外径测量百分表增高座(8-9),所述外径测量百分表增高座(8-9)顶部固定连接有外径测量百分表安装板(8-2),所述外径测量百分表安装板(8-2)上安装有外径测量复位支撑座(8-3)、外径测量百分表(8-14)和用于固定外径测量百分表(8-14)的表头的外径测量表头固定座(8-8),所述外径测量复位支撑座(8-3)上连接有外径测量复位套筒(8-6),所述外径测量百分表(8-14)的表头端部连接有穿过外径测量复位套筒(8-6)和外径测量复位支撑座(8-3)的外径测量复位拉杆(8-7),所述外径测量复位支撑座(8-3)内设置有用于支撑安装外径测量复位拉杆(8-7)的外径测量直线轴承(8-15),所述外径测量复位拉杆(8-7)位于外径测量复位套筒(8-6)内的一段上套装有外径测量复位弹簧(8-13),所述外径测量复位拉杆(8-7)的端部连接有外径测量复位连接板(8-4),所述外径测量复位连接板(8-4)上连接有外径测量复位测量块(8-5)。

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