[发明专利]一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法有效
| 申请号： | 201610379972.5 | 申请日： | 2016-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN106405360B | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 袁锟;王明康;代骞;杨辉 | 申请（专利权）人： | 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 52114 贵阳睿腾知识产权代理有限公司 | 代理人： | 谷庆红 |
| 地址： | 550018 贵州省*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 螺栓 外形 半导体 产品 老化 测试 方法 | ||
【说明书】：
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