[发明专利]一种长波红外光谱仪的光谱定标方法

权利要求书

1.一种长波红外光谱仪的光谱定标方法，其特征在于，所述方法包括：

S1、通过所述光谱仪采集黑体处于N个温度值下的测试数据；其中，在第i温度值T_i下所述黑体的测试数据为S_1,i，i＝1,…N，N为大于1的整数；

S2、将聚丙烯薄膜包覆在所述黑体表面，以构成第二测试体；并且，在黑体处于N个温度值时，通过所述光谱仪采集第二测试体的测试数据；其中，在第i温度值下第二测试体的测试数据为S_2,i；

S3、根据N个温度值下黑体的测试数据、以及第二测试体的测试数据对所述光谱仪的光谱位置进行定标。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光谱仪为干涉型长波红外光谱仪，所述测试数据具体为干涉数据。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，步骤S3包括：

S31、对N个温度值下黑体的干涉数据进行傅里叶变换，以获取N个温度值下黑体的光谱数据；对N个温度值下第二测试体的干涉数据进行傅里叶变换，以获取N个温度值下第二测试体的光谱数据；其中，在第i温度值下黑体的光谱数据为L_1,i、在第i温度值下第二测试体的光谱数据为L_2,i；

S32、在每一温度值下，对第二测试体以及黑体的光谱数据取差值，以获取聚丙烯薄膜的特征吸收峰的位置曲线，并且，根据所述位置曲线确定每一特征吸收峰的位置坐标；其中，在第i温度值下第j个特征吸收峰的位置坐标为r_i,j，j＝1,2,3；

S33、对于每一特征吸收峰，计算其在N个温度值下的位置坐标的平均值

S34、根据对所述光谱仪的光谱位置进行定标。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤S34包括：根据第一个特征吸收峰的参考光谱位置ν1,0、以及第一、二个特征吸收峰的位置坐标的平均值确定第二个特征吸收峰的标定光谱位置；

根据第一个特征吸收峰的参考光谱位置ν_1,0、以及第一、三个特征吸收峰的位置坐标的平均值确定第三个特征吸收峰的标定光谱位置。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据公式2确定第二、三个特征吸收峰的标定光谱位置；

式中，v_k为第k个特征吸收峰的标定光谱位置，k为2或3。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，温度值T_i满足：

30℃≤T_i≤100℃。

7.如权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述黑体的辐射面尺寸为8cm×8cm，发射率为0.96，最高温度为100℃。

8.如权利要求7所述的方法，其中，N＝3，T₁＝60°，T₂＝70°，T₃＝80°。