[发明专利]基于斜距模型下的大斜视SAR曲线轨迹波数域成像方法有效
| 申请号： | 201610344733.6 | 申请日： | 2016-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN106054187B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 邢孟道;王振东;李震宇;梁毅;孙光才 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 | 代理人： | 惠文轩 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 模型 斜视 sar 曲线 轨迹 波数域 成像 方法 | ||
【说明书】：
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