[发明专利]一种静电保护电路、显示面板及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤指一种静电保护电路、显示面板及显示装置。

背景技术

显示面板的制备包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的对盒(Cell)工序，一般在进行Cell工序时要进行面板功能测试(Cell Test)。以通过Cell Test检测面板在Array、CF、Cell这三个工序中出现的不良，把不良的产品去除。目前Cell Test常用的方法是在显示面板的周边区域设置Shorting bar，并将显示面板显示区域中的所有的扫描线和信号线分别与Shorting bar连接，然后再通过Shorting bar进行R/G/B/W画面测试。一旦测试完成，就将显示面板中设置有Shorting bar的区域采用激光切割设备切除。另外，在显示面板的制备时，很多工序中都可能会产生静电，为了避免静电对产品的损伤，在显示面板中一般均设置有静电保护电路。

因此，在现有的显示面板设计中，静电保护电路和Cell Test电路占用了很大的布线空间，使面板的显示区域相对面积更小。并且，现有技术中，为了切除显示面板中设置有Shorting bar的区域还需要配备专门的激光切割设备，成产成本较高。

发明内容

本发明实施例提供一种静电保护电路、显示面板及显示装置，既可以实现静电保护功能，又可以实现Cell Test功能，且结构简单、布线空间较小，不需要进行切割。

本发明实施例提供的一种静电保护电路，包括：第一放电控制模块、放电模块、第一信号端、第二信号端和测试控制信号端；其中，

所述第一放电控制模块的输入端分别与所述第一信号端和所述放电模块的第一端相连，所述第一放电控制模块的输出端分别与所述放电模块的控制端和所述测试控制信号端相连，所述放电模块的第二端与所述第二信号端相连；

所述放电模块用于在所述测试控制信号端接收到测试控制信号时，将第一信号端与第二信号端导通；所述第一放电控制模块用于在所述第一信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制所述放电模块通过所述的第二信号端释放所述第一信号端聚集的静电。

较佳地，在本发明实施例提供的上述静电保护电路中，还包括：第二放电控制模块；其中，

所述第二放电控制模块的输入端与所述第二信号端相连，所述第二放电控制模块的输出端和所述测试控制信号端相连；

所述第二放电控制模块用于在所述第二信号端聚集的静电的数量超过预设值时控制所述放电模块通过所述第一信号端释放所述第二信号端聚集的静电。

较佳地，在本发明实施例提供的上述静电保护电路中，所述第一放电控制模块包括：第一二极管；其中，

所述第一二极管的正极为所述第一放电控制模块的输入端，负极为所述第一放电控制模块的输出端。

较佳地，在本发明实施例提供的上述静电保护电路中，所述第一二极管由第一开关晶体管组成；其中，

所述第一开关晶体管为N型晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与漏极相连为所述第一二极管的正极，所述第一开关晶体管的源极为所述第一二极管的负极；

所述第一开关晶体管为P型晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与源极相连为所述第一二极管的负极，所述第一开关晶体管的漏极为所述第一二极管的正极。

较佳地，在本发明实施例提供的上述静电保护电路中，所述第二放电控制模块包括：第二二极管；其中，

所述第二二极管的正极为所述第二放电控制模块的输入端，负极为所述第二放电控制模块的输出端。

较佳地，在本发明实施例提供的上述静电保护电路中，所述第二二极管由第二开关晶体管组成；其中，

所述第二开关晶体管为N型晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与漏极相连为所述第二二极管的正极，所述第二开关晶体管的源极为所述第二二极管的负极；

所述第二开关晶体管为P型晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与源极相连为所述第二二极管的负极，所述第二开关晶体管的漏极为所述第二二极管的正极。

较佳地，在本发明实施例提供的上述静电保护电路中，所述放电模块包括：第三开关晶体管；其中，

所述第三开关晶体管的栅极为所述放电模块的控制端，源极为所述放电模块的第一端，漏极为所述放电模块的第二端。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括多条栅线，多条数据线，以及与所述栅线和数据线连接的像素单元，还包括：