[发明专利]一种透射式单元探测器成像及电性参数测试系统有效
申请号: | 201610322200.8 | 申请日: | 2016-05-16 |
公开(公告)号: | CN105866589B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 刘磊;江升;韩顺利;闫继送;刘加庆;吕子敬 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01M11/02 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 王连君 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 透射 单元 探测器 成像 参数 测试 系统 | ||
【权利要求书】:
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