[发明专利]高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜及制备方法在审
| 申请号： | 201610306014.5 | 申请日： | 2016-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN105771691A | 公开（公告）日： | 2016-07-20 |
| 发明（设计）人： | 左行涛;周瞾;林杉;龚烨霞 | 申请（专利权）人： | 华中农业大学 |
| 主分类号： | B01D71/34 | 分类号： | B01D71/34;B01D69/02;B01D67/00 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人： | 王敏锋 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 通量 衰减 聚偏氟 乙烯 分离 制备 方法 | ||
1.一种高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜，它由以下重量份的原料制成：
原料 重量份
聚偏氟乙烯13～21
成孔剂0.5～5.0
无机纳米颗粒0.01～2.0
有机溶剂70～87；
所述的有机溶剂为N-N二甲基乙酰胺、N-N二甲基甲酰胺或二甲亚砜其中的一种；
所述的无机纳米颗粒为纳米氧化铁颗粒、纳米二氧化锆颗粒或纳米三氧化二铝颗粒其 中的一种；
所述的成孔剂为氯化锂、氯化铵或聚乙二醇其中的两种任意混合；
所述的无机纳米颗粒其粒径为1nm~1μm；
所述的聚偏氟乙烯的分子量为350000～600000道尔顿。
2.根据权利要求1所述的一种高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜，其特征在于：
原料 重量份
聚偏氟乙烯14～20
成孔剂1.0～4.0
无机纳米颗粒0.2～3.0
有机溶剂73～85。
3.根据权利要求1所述的一种高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜，其特征在于：
原料 重量份
聚偏氟乙烯16～19
成孔剂1.5～3.5
无机纳米颗粒0.4～2.0
有机溶剂73.5～83。
4.根据权利要求1所述的一种高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜，其特征在于：
原料 重量份
聚偏氟乙烯17～18
成孔剂2.0～3.0
无机纳米颗粒0.6～1.5
有机溶剂77～81。
5.根据权利要求1所述的一种高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜，其特征在于：
原料 重量份
聚偏氟乙烯16
成孔剂3.0
无机纳米颗粒0.5
有机溶剂80.5。
6.权利要求1所述的一种高通量低衰减聚偏氟乙烯分离膜的制备方法，其步骤是：
A、将称取的成孔剂、无机纳米颗粒加入到称取的有机溶剂中超声波分散10min~30min；
B、再向有机溶剂中加入称取的聚偏氟乙烯，机械搅拌1~2小时，静置24~48h脱泡得铸膜 液；
C、在20～30℃的条件下将铸膜液在玻璃板上刮制成膜，将放入凝固液中浸泡至膜从玻 璃板上自动脱落；
D、在室温下将膜用蒸馏水漂洗后，放入去离子水中浸泡48~72h，得高通量低衰减聚偏 氟乙烯分离膜。
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