[发明专利]制造光纤预制棒时检测玻璃微粒沉积体落下的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610297117.X 申请日: 2016-05-06
公开(公告)号: CN105776841A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 藤田敬;高扬;徐波 申请(专利权)人: 藤仓烽火光电材料科技有限公司
主分类号: C03B37/014 分类号: C03B37/014;G01N15/04
代理公司: 湖北竟弘律师事务所 42230 代理人: 李晓贝
地址: 430205 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 制造 光纤 预制 检测 玻璃 微粒 沉积 落下 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光纤预制棒的制造领域,具体是涉及一种制造光纤预 制棒时检测玻璃微粒沉积体落下的装置及方法。

背景技术

在光纤预制棒的制造过程中,一般通过VAD(Vapor-phaseAxial Deposition,气相轴向沉积)法,在反应容器内形成玻璃微粒沉积体。 玻璃微粒沉积体是通过使用喷灯形成氢氧焰,然后四氯化硅(疏松体) 在氢氧焰内水解反应而生成。制造玻璃微粒沉积体需要的时间较长, 玻璃微粒沉积体在形成的过程中,偶尔会有一部分落下。目前玻璃微 粒沉积体有无落下是由人目视进行确认。因此,当作业员的人数少于 装置的台数时,可能经过很长时间,才发现有玻璃微粒沉积体落下, 这样会导致氢氧焰逆流到喷灯侧,对喷灯和装置造成损坏。

发明内容

本发明的目的是为了克服上述背景技术的不足,提供一种制造 光纤预制棒时检测玻璃微粒沉积体落下的装置及方法,当玻璃微粒沉 积体落下时,测重仪及时向气体控制柜发出信号,气体控制柜接收信 号后,自动关闭气体阀门,停止供气,能够防止喷灯和其它装置受到 损坏。

本发明提供一种制造光纤预制棒时检测玻璃微粒沉积体落下 的装置,该装置包括用于制造玻璃微粒沉积体的反应容器,所述 反应容器的侧壁设置有喷灯,所述反应容器的底部设置有测重仪, 反应容器的外部设置有气体控制柜,测重仪与气体控制柜电连接, 气体控制柜通过气管与喷灯相连。

在上述技术方案的基础上,所述测重仪位于玻璃微粒沉积体、 喷灯的下方。

在上述技术方案的基础上,所述测重仪的输出端与气体控制柜 的输入端相连。

在上述技术方案的基础上,所述气体控制柜的出气口通过气 管与喷灯的进气口相连。

本发明还提供一种制造光纤预制棒时检测玻璃微粒沉积体落下 的方法,包括以下步骤:

在反应容器的底部安装测重仪,当玻璃微粒沉积体落下时,落到 位于玻璃微粒沉积体、喷灯下方的测重仪上;测重仪的配线连接在气 体控制柜上,当测重仪的测量值增加时,测重仪及时向气体控制柜发 出信号,气体控制柜接收信号后,自动关闭气体阀门,停止供气。

在上述技术方案的基础上,所述测重仪用于及时检测少量的玻 璃微粒沉积体落下。

在上述技术方案的基础上,所述测重仪从1g开始测量。

在上述技术方案的基础上,所述测重仪用于测量重于玻璃微粒 沉积体的重量。

与现有技术相比,本发明的优点如下:

本发明在反应容器的底部安装测重仪,当玻璃微粒沉积体落下 时,落到位于玻璃微粒沉积体、喷灯下方的测重仪上,测重仪的配线 连接在气体控制柜上,当测重仪的测量值增加时,测重仪及时向气体 控制柜发出信号,气体控制柜接收信号后,自动关闭气体阀门,停止 供气,能够防止喷灯和其它装置受到损坏。

附图说明

图1是本发明实施例制造光纤预制棒时检测玻璃微粒沉积体落 下的装置的结构示意图。

附图标记:1-反应容器,2-玻璃微粒沉积体,3-喷灯,4-测重仪, 5-气体控制柜。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。

参见图1所示,本发明实施例提供一种制造光纤预制棒时检测玻 璃微粒沉积体落下的装置,该装置包括用于制造玻璃微粒沉积体2的 反应容器1,反应容器1的侧壁设置有喷灯3,反应容器1的底部设 置有测重仪4,测重仪4位于玻璃微粒沉积体2、喷灯3的下方,反 应容器1的外部设置有气体控制柜5,测重仪4的输出端与气体控制 柜5的输入端相连,气体控制柜5的出气口通过气管与喷灯3的进气 口相连。

本发明实施例还提供一种制造光纤预制棒时检测玻璃微粒沉积 体落下的方法,包括以下步骤:

A、在反应容器1的底部安装测重仪4,当玻璃微粒沉积体2落 下时,落到位于玻璃微粒沉积体2、喷灯3下方的测重仪4上,测重 仪4从1g开始测量,即使有少量的玻璃微粒沉积体2落下也可以及 时检测到,测重仪4还可以用于测量重于玻璃微粒沉积体2的重量;

B、测重仪4的配线连接在气体控制柜5上,当测重仪4的测量 值增加时,测重仪4及时向气体控制柜5发出信号,气体控制柜5接 收信号后,自动关闭气体阀门,停止供气,能够防止喷灯3和其它装 置受到损坏。

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