[发明专利]电容式触控面板检测系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测领域，尤其涉及一种电容式触控面板检测系统和方法。

背景技术

触控感测线(Touch sensor)一般都是指镀上ITO导电层的触控导电玻璃(ITO Glass)，或是触控导电薄膜(ITO Film)。电容式触控面板的感测线一般需要在ITO层上刻蚀出各种图案。图1为本发明电容式触控面板感测线的平面结构示意图，如图1所示，触控感测线包括行感测线201、列感测线203、给行感测与列感测提供电压信号的驱动电路206，以及连接驱动电路206与感测线的导线205。行感测线201由多个行感测PAD 202组成，列感测线203由多个列感测PAD 204组成。行感测PAD之间通过同层导线或者不同层的桥接导线实现电学连接。列感测PAD之间通过不同层的桥接导线或者同层导线实现电学连接。

现有电容式触控面板的感测线检测是在全部制作工艺完成后，给IC通电，根据输出的波形判断缺陷的位置。通过对驱动电路204通电，检测触控感测线的波形断缺陷的位置，但此方法不利于及早发现问题，而且当触控传感器的图案为单层ITO结构时，无法准确定位缺陷出现的具体位置。

电容式触控又称为静电电容式触控，是在手指触摸面板后，通过捕捉从面板表面流走的电荷，确定触控位置的方法。电容式触控技术是利用手指等带电体的触控引起静电电容变化，通过感测电路计算发生电容变化地方的X轴和Y轴坐标来确定触控位置。

静电电容流过人体的电流非常微弱，不同于脱毛衣时候产生的静电。如图2(a)所示，驱动电路206给行感测线201与列感测线203施加一定的电压信号后，在行感测PAD 202与列感测PAD 204之间会形成一个水平电场。如图2(b)所示，当手指接触触控面板时，手指与触控面板上的感测电极之间会耦合形成一个手指电容Cf，同时手指与地之间的人体也存在一个大电容Cb。对触控面板上的感测电极而言，Cf和Cb是两个串联电容。因为人体电容Cb的大小比手指电容Cf至少高出一个数量级，所以感测电极通过手指到地面的通道上，手指电容Cf起支 配作用。由于手指电容Cf的存在，行感测PAD 202与列感测PAD 204之间的水平电场发生变化，通过检出这个变化量就可以确定手指触控的具体位置。

电容式触控面板在生产制作过程中，需要进行功能测试，功能测试主要分为感测测试、FOG(Film On Glass)测试和成品测试三个部分。

感测测试是在感测来料切割以后必须要做的第一道工序，检测的结果直接关系到整个电容式触控面板的后端生产。因为电容式触控面板的感测由行感测线与列感测线垂直交叉构成，每一个通道都是由设计好的ITO电桥构成，可以用万用表对感测上面的每个通道进行测量，从而判断其断路与短路情况。但是，这样做的效率极其低下，根本就无法去实施大批量生产的需求，因此，感测测试治具就显得尤为重要。

FOG测试是在感测功能测试和外观检验合格之后，进行的第二道关键性测试，它将直接影响到后面的贴合。FOG测试主要是通过电脑和相关的配套测试软件来进行，分析FOG后CTP半成品的通断短路所有情况。

成品测试是在成品入库之前所做的最后一道产品检测，具体类似于FOG测试，检测电容式触控面板成品是否功能一切正常。

电容式触控面板的功能检测本质就是要检测感测线的功能是否正常。以电容式触控面板测试的第一道测试为例，目前做电容式触控面板测试架的厂家非常多，原理上面大部分都是通过测试感测各个通道的阻抗来分析该感测的功能可靠性。但是，真正使用时会发现有很多问题，这类测试架经常性发生误判，将合格品判为不合格品，或者无法判断开路，甚至经常性发生测试架断线或者误判，影响生产。

发明内容

本有鉴于此，本发明的目的就是针对现有技术存在上述或其它问题，提供一种电容式触控面板检测系统和方法，其利用水平电场型液晶显示器件可以高效直观的检测电容式触控面板，具有检测方法简单、检测精度高、成本低的优点。

为了达到上述或其它目的，本发明一方面提出了一种电容式触控面板检测系统,用于检测电容式触控面板的感测线，该电容式触控面板具有两侧，通过对该感测线施加电压产生水平电场，包括：水平电场型液晶显示器件，设置在该电 容式触控面板的一侧，用于显示检测图案；背光源，设置在该电容式触控面板的另一侧，用于透过该电容式触控面板为该液晶显示器件提供背光。

进一步地，该电容式触控面板至少包括：一透明基板，该透明基板上布置有多条第一感测线和多条第二感测线，通过施加电压，该第一感测线和第二感测线之间形成水平电场。