[发明专利]像素级热色液晶的标定方法和温度测量方法有效
申请号: | 201610293607.2 | 申请日: | 2016-05-05 |
公开(公告)号: | CN105823575B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 陶智;李海旺;由儒全;魏宽;吴会杰 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00;G01K11/16 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 级热色 液晶 标定 方法 温度 测量方法 | ||
1.一种像素级热色液晶的标定方法,其特征在于,包括:
制作与待测温件的形状和尺寸均相同的标定件;
在所述标定件上喷涂热色液晶;
拍摄所述标定件在不同温度下的图片,且在拍摄过程中所述标定件的位置、所述标定件所受的光照强度和拍摄所用装置相对于所述标定件的位置均保持不变;
对拍摄到的各个图片进行裁剪,在裁剪过程中保留每一张图片的显色部分,使裁剪后的各个图片的像素数量相同;
根据拍摄得到的各个图片,确定所述标定件中每一个像素点的温度和色度值之间的关系曲线,并将该关系曲线作为所述待测温件中对应像素点的标定曲线;
所述确定所述标定件中每一个像素点的温度和色度值之间的关系曲线,包括:
从拍摄得到的各个图片中提取出所述标定件中每一个像素点在不同温度下的色度值;
对每一个像素点的色度值和温度进行曲线拟合,得到每一个像素点的温度和色度值之间的关系曲线,其中,所述从拍摄得到的各个图片中提取出所述标定件中每一个像素点在不同温度下的色度值采用RGB-HSV公式。
2.根据权利要求1所述的标定方法,其特征在于,在所述标定件上喷涂的热色液晶的厚度与在所述待测温件上热色液晶的预期喷涂厚度相同。
3.根据权利要求1所述的标定方法,其特征在于,所述拍摄所述标定件在不同温度下的图片,包括:
对所述标定件进行加热,调节加热功率使其处于不同的温度,并拍摄所述标定件在不同温度下的图片。
4.根据权利要求1所述的标定方法,其特征在于,在拍摄所述标定件在不同温度下的图片之前,所述方法还包括:
将所述标定件安装在固定支架上,并对拍摄所用装置和提供光照的灯具的位置进行固定。
5.一种温度测量方法,其特征在于,包括权利要求1-4任一所述的标定方法,所述温度测量方法还包括:
在所述待测温件上喷涂热色液晶,且喷涂厚度与所述标定件上喷涂的热色液晶的厚度相同;
拍摄所述待测温件的图片,且拍摄时使所述待测温件的位置、所受的光照强度、拍摄所用装置相对于所述标定件的位置与所述标定件的位置、所受的光照强度、拍摄所用装置相对于所述标定件的位置分别对应相同;
从所述待测温件的图片中提取所述待测温件上每一像素点的色度值;
根据每一像素点的色度值和标定曲线,确定该像素点的温度;
根据各个像素点的温度,确定所述待测温件的温度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610293607.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:NTC热敏电阻器响应时间测试装置及测试方法
- 下一篇:温度估计装置