[发明专利]具有改善性能的LED器件及其制造方法在审
申请号: | 201610273024.3 | 申请日: | 2016-04-28 |
公开(公告)号: | CN107331736A | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 左朋;陈弘;贾海强;江洋;马紫光;王文新;乐艮;赵斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/22 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 | 代理人: | 王勇,叶北琨 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 改善 性能 led 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种制造具有改善性能的LED器件的方法,包括下列步骤:
1)准备未做表面钝化处理的LED芯片;
2)在步骤1)所准备的LED芯片的表面沉积钝化层;
3)在所述钝化层上涂覆光刻胶,然后在所涂覆的光刻胶上制作纳米点阵;
4)将步骤3)所得的光刻胶作为掩膜,在所述钝化层刻蚀出纳米结构阵列,得到图形化的钝化层;
5)在所述图形化的钝化层上刻蚀出孔洞以露出LED芯片的P电极区域与N电极区域,在所刻蚀出的孔洞中沉积相应的电极金属。
2.根据权利要求1所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤1)中,所述未做表面钝化处理的LED芯片由下至上依次包括:外延生长的衬底、N型区、有源区、P型区和透明导电层。
3.根据权利要求1所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤2)中,所述钝化层的材质为SiO2、SiNx或者SiONx。
4.根据权利要求3所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤2)中,采用等离子体增强化学气相沉积技术在LED芯片的表面沉积钝化层,并且在沉积钝化层时使所述钝化层覆盖所述LED芯片的侧壁;所述钝化层厚度在250nm~600nm范围内。
5.根据权利要求4所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤3)中,在光刻胶上制作的纳米点阵为光刻胶纳米周期点阵。
6.根据权利要求1~4中任一项所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤4)中,所述纳米结构阵列为截角锥形貌的纳米结构阵列。
7.根据权利要求1~4中任一项所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤4)中,所述纳米结构阵列为柱状纳米结构阵列。
8.根据权利要求1~4中任一项所述的制造具有改善性能的LED器件的方法,其特征在于,所述步骤5)中,结合光刻技术与干法刻蚀技术在所述图形化的钝化层上刻蚀所述孔洞。
9.一种LED器件,包括:
LED芯片;和
图形化的钝化层,所述图形化的钝化层被制作在所述LED芯片的表面上,并具有纳米结构阵列。
10.根据权利要求9所述的LED器件,其特征在于,所述钝化层的材质为SiO2、SiNx或者SiONx;所述纳米结构阵列为截角锥形貌的纳米结构阵列或者柱状纳米结构阵列。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院物理研究所,未经中国科学院物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610273024.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种塔式循环热油农作物烘干系统
- 下一篇:一种LED封装方法