[发明专利]一种链路质量自适应调优方法有效
申请号: | 201610259324.6 | 申请日: | 2016-04-25 |
公开(公告)号: | CN105930225B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 周恒钊;童元满;李仁刚;刘金广 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G06F13/42 |
代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人: | 张靖 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 质量 自适应 方法 | ||
技术领域
本发明涉及集成电路芯片设计领域和数字通信技术领域,具体涉及一种链路质量自适应调优方法,一种面向高速串行接口Serdes的链路质量自适应调优方法。
背景技术
随着现代通信承载的信息量的飞速增长,用户对于高带宽的需求越来越迫切,传统的并行总线技术不再能够满足千兆位数据传输速率下的要求。高速串行接口技术的应用逐渐取代并行通信技术,成为高速通信领域的主流解决方案。SerDes(Serializer-Deserializer,串行-解串器)是高速串行接口协议物理层实现的主要部件,其性能表现直接关系到高速通信的质量。
对于高速(>5Gbps)SerDes,由于信号的抖动(如ISI相关的确定性抖动)可能会超过或接近一个符号间隔(UI, Unit Interval),单纯仅使用线性均衡器不再适用,线性均衡器对噪声和信号一起放大,对误码率没有显著改善。通过采用一种称作DFE (Decision Feedback Equalization)的非线性均衡器,通过跟踪过去多个UI的数据来预测当前bit的采样门限,只对信号放大,不对噪声放大,可以有效改善SNR,只要DFE的系数接近信道(channel)的脉冲相应,就可以到的比较理想的结果。但是信道是一个时变的媒介,比如温度电压工艺的慢变化等因素会改变信道channel的特性。因此DFE的系数需要自适应算法,自动扑获和跟随信道的变化。对于每个厂商而言,DFE系数自适应算法都是保密的,不对外公布,从Serdes用户的角度而言,若厂商提供的DFE ROM对Serdes链路质量改善不理想,则会对产品的性能造成较大影响。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:本发明提出一种面向高速串行接口Serdes的链路质量自适应调优方法,一种基于PRBS-31伪随机序列码发生和比对,辅以芯片温差,传输误码率作为链路传输质量标志的调优方法。
本发明所采用的技术方案为:
一种链路质量自适应调优方法,对于高速串行接口Serdes的链路,所述方法通过将PRBS-31伪随机码发生/校验加入高速串行接口的去加重均衡过程,并以误码率和温度变化作为DFE结束判断标志,形成高速Serdes链路质量调优的固定流程。
所述方法包括7个环节:
1)发送端去加重参数配置,根据PCB板级高速信号仿真完整性仿真后得到的Tx EQ参数值,通过SMBUS总线将其写入Serdes配置模块对应的去加重(De-emphasis)配置寄存器中;
2)发送/接收端极性配置,完成所述的发送端EQ参数配置后,根据PCB板级设计中高速串行接口的PN翻转情况,对Serdes的Tx/Rx极性寄存器进行配置;
3)BIST模式以及校验模式配置,完成所述的发送/接收端极性配置后,将Serdes发送端Tx配置成BIST模式,开始发送PRBS-31伪随机序列码;接收端Rx打开数据比对,并配置期望的码型为PRBS-31;
4)接收端DFE 微代码上传,完成所述的BIST模式配置后,将基于判决反馈均衡算法(Decision Feedback Equalization)实现的自适应DFE程序微代码通过SMBUS总线上传写入芯片的RAM存储器中,上传完成后进行CRC校验并且通过;
5)接收端DFE模式配置以及开始自适应DFE,完成所述的DFE程序代码 CRC校验后,先将接收端的DFE模式寄存器配置成粗调(Coarse tuning)+ 参数定义迭代次数精调(Fine tuning)模式,然后打开DFE使能开关开始Serdes Rx自适应DFE过程,观测DFE状态寄存器直到粗调状态(Coarse status)和精调状态(Fine status)都显示完成,切换DFE模式为自适应循环模式(Adaptive one loop);
6)监测序列码校验状态信息,完成所述的切换DFE模式为自适应循环模式后,将错误计数寄存器清0,开始监测该寄存器所显示的错误以及其累加速度,每10秒统计一次错误计数寄存器上的数据,若错误累加速度过快,即误码率(BER)大于10E-10,或者芯片温度(通过芯片内部温度传感器获得)上升过快,即10秒前后芯片温差大于10摄氏度,则继续保持执行自适应循环DFE 10秒;
7)DFE完成以及发送端数据源切换,若步骤6)中的两个条件都不满足,即误码率小于10E-10且温差小于10摄氏度,则DFE完成,关闭DFE使能后将高速串行接口的数据源从BIST测试数据序列切换到核心数据(Core data)。
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