[发明专利]一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件及其制作方法

说明书

本发明提供一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件及其制作方法，所述器件包括：半绝缘GaAs衬底；位于该衬底上表面的GaAs缓冲层；位于该缓冲层表面的n型重掺杂下接触层；位于该下接触层表面的有源区；位于有源区表面的n型重掺杂上接触层；位于n型重掺杂上接触层表面且各自分隔的第一、第二、第三上电极金属层，第一上电极金属层与第二上电极金属层之间设有凹至GaAs缓冲层的深隔离槽，第三上电极金属层为退火后可形成高波导损耗的上电极金属层；以及位于n型重掺杂下接触层表面及有源区两侧的下电极金属层。通过本发明提供的一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件及其制作方法，解决了现有技术中无法测得THz QCL在可工作电流密度范围内完整的增益谱变化情况的问题。

技术领域

本发明涉及激光器半导体技术领域，特别是涉及一种太赫兹量子级联激光器增益谱测量器件及其制作方法。

背景技术

太赫兹(THz)波是指频率位于100GHz到10THz的一段电磁波，介于微波与红外波之间。从能量上来说，THz波的光子能量覆盖了半导体及等离子体的特征能量，也与有机和生物大分子等的转动及振动能量相匹配，因此可用于物质检测、环境监测等领域；从频域上看，THz波的频率高，适用于空间保密通信及高速信号处理等领域；此外，THz波能够穿透多种非导电材料，如塑料、木头、纸张等，在成像及公共安全等领域也有广泛的应用前景。

在众多的THz辐射产生方式中，基于半导体的太赫兹量子级联激光器(THz QCL)由于其体积小、轻便、功率高和易集成等特点，成为此领域一类重要的辐射源器件。目前有关THz QCL的研究工作已经不仅仅局限于提高器件的工作温度和输出功率了，而是倾向于开发和提高THz QCL作为一种相干光源的其它性能，如单模输出、波长可调谐度等。开发基于THz QCL材料的THz光梳，THz锁模激光器，THz光放大器等新型功能性器件已经成为新的热点方向。

THz QCL的器件性能与有源区量子阱结构和波导结构的细微变化直接相关，相比于激射频率和输出功率这样的宏观参量，增益谱是更为底层的器件表征参数。对THz QCL增益谱的研究可以增进对THz QCL结构和器件内部微观物理性能的了解，对改进器件有源区和波导结构设计，提高THz QCL器件性能，以及研制新型THz功能性器件都有非常重要的实际意义。

如图1和图2所示，早在2000年Barbieri教授的课题组利用两段式波导结构的样本器件(从左到右依次包括泵浦段和被测波导段)和傅立叶变换红外光谱仪(FTIR)的测量方法已经实现了对中红外QCL完整增益谱的测量(IEEE Journal of Quantum Electronics,36,6,736-741,2000)，但将这种测量方法运用到THz QCL材料上时却不适用了。原因在于：1.此测量方法要求测量样本器件中的泵浦段有足够高的波导损耗来吸收左端面反射波，防止反射波进入右侧被测波导段，以保证测量的准确性；然而，由于THz QCL的波导损耗(约3～15cm^-1)远小于中红外QCL(约20～50cm^-1)；如果采用增加泵浦段波导长度的方法来提高对反射波的吸收，则样本器件会尺寸过长(>1cm)，导致工艺制备困难；如果采用端面磨角的方法来减少反射波，也会增加工艺制备难度且并不能完全消除反射波。2.在测量增益谱时，要求样本器件处于亚阈值状态(即电流注入下器件的增益小于阈值增益，器件不产生激光)，如果使用中红外QCL增益谱测量样本器件结构，这就要求测量时泵浦段的注入电流密度足够低，这将直接导致泵浦段输出参考光的功率非常小；由于中红外波段的高灵敏度高速探测器(如碲镉汞MCT探测器等)发展较为成熟，可以完成对极微弱中红外光的探测，而THz波段的探测器在灵敏度和速度方面远不及中红外波段的产品，为了完成增益谱的测量实验，只能考虑如何增加样本器件测量时的输出光功率。