[发明专利]CT系统几何校正效果的检验方法及装置有效
申请号: | 201610251571.1 | 申请日: | 2016-04-20 |
公开(公告)号: | CN105869130B | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 李翰威;张光彪;詹欣智;黄文记;詹延义 | 申请(专利权)人: | 广州华端科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T15/20 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 王程 |
地址: | 510530 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | ct 系统 几何 校正 效果 检验 方法 装置 | ||
1.一种CT系统几何校正效果的检验方法,其特征在于,包括:
扫描预设的校正模体,得到所述校正模体的投影图像,根据所述校正模体及其投影图像得出CT系统的几何校正参数;
扫描预设的评价模体,得到所述评价模体的投影图像;根据几何校正参数以及所述评价模体的投影图像,重建所述评价模体的三维图像;所述评价模体由正方体和球体组成,所述球体球心和正方体重心重合,且球体半径小于正方体的内切球体半径;球体的物质密度不同于正方体的物质密度;
从所述三维图像中分割出球体的图像,检测图像中的球心位置,获取球心位置所在图层作为所述评价模体的待处理图像,并检测所述待处理图像中圆的边缘;
根据圆的边缘统计出所述待处理图像中的圆内点数、圆内点CT值总和、圆外点数以及圆外点CT值总和;
计算圆内点CT均值、圆外点CT均值,得出两者的差的绝对值,作为评价对应几何校正参数的几何校正效果的评价指数;
比较各组几何校正参数对应的评价指数,根据所述评价指数的大小得出各组几何校正参数的几何校正效果的好坏;
所述扫描预设的校正模体,得到所述校正模体的投影图像,包括:
检测到所述校正模体位于旋转中心并且所述校正模体的投影完全在所述CT系统的FOV内,扫描预设的校正模体,使射线源和探测器绕所述校正模体旋转一周,等间隔采集所述校正模体的投影图像;
所述扫描预设的评价模体,得到所述评价模体的投影图像,包括:
检测到所述评价模体位于旋转中心并且所述评价模体的投影完全在所述CT系统的FOV内,扫描预设的评价模体,使射线源和探测器绕所述评价模体旋转一周,等间隔采集所述评价模体的投影图像;
所述校正模体为:表面等螺距等角度的镶嵌多个标记点的空心圆柱体。
2.根据权利要求1所述的CT系统几何校正效果的检验方法,其特征在于,所述根据圆的边缘统计出所述待处理图像中的圆内点数、圆内点CT值总和、圆外点数以及圆外点CT值总和,包括:
根据圆的边缘确定出所述待处理图像中圆的圆心位置和半径;
识别所述待处理图像中的圆内点和圆外点,包括:
将满足条件(xi-a)2+(yi-b)2≤r2的点识别为圆内点,
将满足条件r2≤(xi-a)2+(yi-b)2≤(r+R)2的点识别为圆外点;
根据识别结果统计出圆内点数、圆内点CT值总和、圆外点数以及圆外点CT值总和;
其中,(xi,yi)为所述待处理图像中第i个点的坐标,(a,b)为所述待处理图像中圆的圆心坐标,r为所述待处理图像中圆的半径,R为预设的参数,其取值范围为大于0且小于正方体内切球半径与球体半径的差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州华端科技有限公司,未经广州华端科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610251571.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于多尺度技术的肿瘤纹理特征的提取方法
- 下一篇:图像处理方法和装置