[发明专利]一种LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统在审

专利信息
申请号: 201610236252.3 申请日: 2016-04-15
公开(公告)号: CN105784681A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 姜守望;王欣;万金龙;何志平;舒嵘;王建宇 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 libs 光谱 探测 显微 成像 多功能 系统
【权利要求书】:

1.一种LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,包括:激光器(1),扩 束模块(2),反射式显微系统,像差校正板(7),耦合透镜组(9),光纤探测 模块(11),成像探测器(12),其特征在于:

激光器(1)发射出1064nm的激光,经扩束模块(2)扩束后,由反射镜 (3)和偏置于主镜(5)和次镜(6)之间的第一分色片(4)进入反射式显微 系统,之后经像差校正板(7)聚焦到被测物体(8)上,被测物体(8)受到 激光照射后产生等离子体光谱,等离子体光谱经主镜(5)、次镜(6)及第一 分色片(4)进入耦合透镜组(9),通过耦合透镜组(9)之后到达偏置于耦合 透镜组(9)之后的第二分色片(10),第二分色片(10)将光束分成两路,一 路光进入光谱探测模块(11)进行光谱探测,另一路光进入成像探测器(12) 进行显微成像。

2.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的反射式显微系统由主镜(5)、次镜(6)及像差校正板(7) 组成,像差校正板(7)放置于主镜(5)与被测物体(8)之间的光路中,像 差校正板(7)为施密特校正板,其中一个表面为高次非球面。

3.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的激光器(1)的激光波长为1064nm,出射光斑直径3mm,发 散角为1mrad。

4.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的扩束模块(2)由两片透镜组成,角放大倍数为0.13。

5.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的耦合透镜组(9)由两片透镜组成,两片透镜的阿贝数相差 30以上,且两种材料在240nm-1000nm波段的光谱透过率均在90%以上。

6.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的第一分色片(4)上镀1064nm反射膜,240nm-1000nm增透膜。

7.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的第二分色片(10)上镀900nm-1000nm反射膜,240nm-850nm 增透膜。

8.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的光纤探测模块(11)中采用的光纤芯径为600um,且分成 240nm-340nm、340nm-540nm、540nm-850nm三个波段分别进行光谱探测。

9.根据权利要求1所述的LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其 特征在于:所述的成像探测器(12)的像素大小为64×64,像元尺寸大小为 30um。

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