[发明专利]一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法有效
申请号: | 201610230476.3 | 申请日: | 2016-04-13 |
公开(公告)号: | CN105758518B | 公开(公告)日: | 2018-03-16 |
发明(设计)人: | 周彦宇;高祥;孙耿鹏 | 申请(专利权)人: | 广州合成材料研究院有限公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01N17/00 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人: | 胡辉 |
地址: | 510665 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 氙灯 老化 辐照 及其 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及辐照技术领域,尤其涉及一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法。
背景技术
在高分子材料老化人工加速试验中,常用氙灯或其他光源的老化箱模拟太阳光谱中的紫外、可见光以及红外部分对样品进行加速老化。其中,紫外波段对高分子材料的老化作用最显著,因此,通常在紫外波段或近紫外的可见光波段对辐照度进行计量。氙灯老化箱的辐照度计量波段主要有340nm窄带、420窄带、300-400nm宽带三种。
目前市场已有可测量紫外波段辐照度的辐照计,但绝大多数都是用于气象、农业、医疗领域,其计量波段不符合老化测试的要求。有少数可用于老化测试的辐照计也只适用于紫外老化箱的UVA、UVB波段。现有的个别氙灯老化箱生产厂家为他们自己的老化箱配备了专用的辐照计,但其采用的传感器有效频率范围通常很窄,仅能测量单一波段的辐照度。而且现在的传感器很容易受到信号干扰,测量的准确性较低。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明的目的是提供一种能减少干扰,测量多个波段辐照度的一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法。
本发明所采取的技术方案是:
一种用于氙灯老化箱的辐照计,包括探头和主机,所述探头包括有滤光片和传感器模块,所述传感器模块与主机相连接。
作为本发明的进一步改进,所述主机包括主机壳体,所述主机壳体内设有电路板和电池,所述主机壳体上安装有按键面板,所述传感器模块与电路板连接,所述电路板的输入端与按键面板的输出端连接,所述电池的输出端与电路板的电源输入端连接。
作为本发明的进一步改进,所述电路板包括中央控制器、低通滤波电路、屏幕驱动电路、屏幕、电源电路和外部电源接口,所述传感器模块的输出端与低通滤波电路的输入端连接,所述低通滤波电路的输出端与中央控制器的第一输入端连接,所述中央控制器的输出端与屏幕驱动电路的输入端连接,所述屏幕驱动电路的输出端与屏幕的输入端连接,所述电源电路的输出端分别与传感器模块的电源输入端、低通滤波电路的电源输入端、中央控制器的电源输入端和屏幕驱动电路的电源输入端相连接,所述电池与电源电路的第一输入端连接,所述电源电路的第二输入端与外部电源接口连接,所述按键面板的输出端分别与中央控制器的第二输入端和电源电路的输入端连接。
作为本发明的进一步改进,所述传感器模块包括光电转换器件和放大缓冲电路,所述光电转换电路的输出端通过放大缓冲电路进而连接至低通滤波电路的输入端。
作为本发明的进一步改进,所述探头还包括有探头壳体,所述探头壳体设有开口,所述滤光片安装在开口上。
作为本发明的进一步改进,所述探头壳体采用铝合金材质全密闭结构。
作为本发明的进一步改进,所述电源电路采用三极管自锁电路。
本发明所采用的另一技术方案是:
一种用于氙灯老化箱的辐照计的测量方法,包括以下步骤:
A、获取选择对应的波段和氙灯滤光罩类型;
B、调用已校准标定的相应基准数据;
C、根据对应的波段、氙灯滤光罩类型和相应基准数据,调用对应的辐照度算法对辐照度进行计算,得到辐照度值。
本发明的有益效果是:
本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计通过探头中的滤光片和传感器模块能有效减少信号干扰,提高测量准确性,而且通过主机能进一步进行信号过滤和根据波段选择对应的算法进行辐照度计算,从而能大大提高测量的准确性,以及能测量多个波段的辐照度,提高适用性。
本发明的另一个有益效果是:
本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计的测量方法根据获取的波段选择对应的算法进行辐照度计算,从而能大大提高测量的准确性,以及能测量多个波段的辐照度,提高适用性。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步说明:
图1是本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计中探头的结构示意图;
图2是本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计中主机的结构示意图;
图3是本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计的原理方框图;
图4是本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计的测量方法的步骤流程图。
具体实施方式
参考图1~图3,本发明一种用于氙灯老化箱的辐照计,包括探头和主机,所述探头包括有滤光片2和传感器模块3,所述传感器模块3与主机相连接。
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