[发明专利]优化微小信号测量的示波器及其方法有效

专利信息
申请号: 201610228990.3 申请日: 2016-04-13
公开(公告)号: CN105759098B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 李屹成;胡博滔;王晓萍 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01R13/00 分类号: G01R13/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 张法高
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 优化 微小 信号 测量 示波器 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种利用优化微小信号测量的示波器的示波方法,其特征在于,所述的示波器包括战舰STM32F103开发板和VCA810程控放大模块;

战舰STM32F103开发板的DAC输出引脚经过第一电源后,连接至VCA810程控放大模块的DAC控制信号输入引脚;战舰STM32F103开发板的ADC1和ADC2分别连接到VCA810程控放大模块的输入端和输出端;战舰STM32F103开发板的地线引脚通过第二电源后,连接至VCA810程控放大模块的地线引脚;被测信号输入VCA810程控放大模块的输入端;战舰STM32F103开发板上连接用于显示的液晶屏和用于输入的键盘,由STM32F103单片机直接控制;

所述示波方法的步骤如下:

1)首先将被测信号输送至VCA810程控放大模块的输入端;

2)被测信号首先被ADC1采样,STM32F103单片机读取ADC1采样得到的数据,并与预设值比较以判断被测信号是否属于微小信号;当判断出被测信号不属于微小信号时,继续使用ADC1进行采样,STM32F103单片机对ADC1采样得到的数据进行筛选,直至当波形符合用户所设置触发条件时,将采样所得数据存储;当存储数据满足预设条件时,完成一轮采样,STM32F103单片机读取存储的数据,并计算信号的幅值;战舰STM32F103开发板的DAC输出控制信号,使得VCA810程控放大模块不工作;STM32F103单片机根据本轮采样得到的数据,驱动LCD显示屏显示波形及信号参数;

3)当判断出被测信号属于微小信号时,示波器将启用ADC2进行采样,STM32F103单片机对ADC2采样得到的数据进行筛选,直至当波形符合用户所设置触发条件时,将采样所得数据存储;当存储数据满足预设条件时,完成一轮采样,STM32F103单片机读取存储的数据,并计算信号的幅值;战舰STM32F103开发板的DAC输出控制信号,使得VCA810程控放大模块工作在放大状态,将被测微小信号放大;STM32F103单片机根据本轮采样得到的数据,驱动LCD显示屏显示波形及信号参数;

4)显示一次波形后,示波器重复步骤2)和3),进行下一轮采样并根据本轮采样得到的数据,驱动LCD显示屏显示波形及信号参数。

2.如权利要求1所述的示波方法,其特征在于,所述的第一电源为2节1.5V干电池,所述的第二电源为1节1.5V干电池。

3.如权利要求1所述的示波方法,其特征在于,步骤2)和3)不断循环进行采样和波形显示,直至用户关闭示波器。

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