[发明专利]离子迁移谱和质谱并行分析的方法及装置有效
申请号: | 201610216645.8 | 申请日: | 2016-04-08 |
公开(公告)号: | CN107271575B | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 张小强;黄云清;孙文剑 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/72;H01J49/00 |
代理公司: | 31219 上海光华专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 高彦 |
地址: | 日本国京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离子 迁移 并行 分析 方法 装置 | ||
1.一种离子迁移谱和质谱并行分析的方法,包括:
待分析的样品经过色谱仪,产生色谱分离;
将所述被色谱分离的样品电离后送入后级装置进行分析,包括:至少部分所述样品经电离后通过离子迁移谱仪进行分析,得到离子迁移谱图;至少其它部分所述样品经电离后通过质谱仪进行分析,得到质谱图;所述得到每一张离子迁移谱图和每一张质谱图的时间均不大于5秒;
进行数据后处理,包括:根据所述待分析的样本中相同成分在色谱仪内的色谱柱上的保留时间或者经过色谱仪后在色谱图上流出峰型的一致性,用解卷积算法将离子迁移谱图中的谱峰与质谱图中的谱峰对应起来。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离的样品在被电离前,经过一个切换阀门被分成两路,所述两路样品被分别电离后,分别送至所述离子迁移谱仪和质谱仪进行分析。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离的样品被电离后,电离产生的离子通过两个不同的离子入口,分别传输至所述离子迁移谱仪和质谱仪。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离的样品被电离,电离产生的离子通过离子光学装置,所述离子光学装置周期性交替的将所述离子提供给其后级的所述离子迁移谱仪内的离子迁移率分析器和质谱仪内的质量分析器以供分析。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离的样品被电离,电离产生的离子先经过所述离子迁移谱仪被分离,再通过所述质谱仪进行质谱分析。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述色谱仪为气相色谱仪、液相色谱仪、超临界色谱仪、离子色谱仪、或毛细管电泳仪。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述离子迁移谱仪为迁移管离子迁移谱仪、差分离子迁移谱仪、或者高场不对称波形迁移谱仪。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述质谱仪的质量分析器为四极杆质量分析器,或者离子阱质量分析器,或者傅立叶变换回旋共振质量分析器,或者轨道阱质量分析器;。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述质谱仪的质量分析器为飞行时间质量分析器。
10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述质谱仪为包含碰撞腔的串联质谱仪。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离的样品被电离,电离产生的离子通过离子光学装置,所述离子光学装置周期性交替的将所述离子提供给其后级的所述离子迁移谱仪内的离子迁移谱分析器和质谱仪内的质量分析器以供分析;并且,所述被色谱分离并被电离的离子在进入所述碰撞腔并发生碰撞解离之后,进入所述离子光学装置,被周期性交替的提供给所述离子迁移率分析器和质量分析器。
12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离并被电离的离子在进入碰撞腔并发生碰撞解离之后,先经过所述离子迁移谱仪内的离子迁移谱分析器被分离,再进入所述质谱仪内的质量分析器进行质谱分析。
13.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述被色谱分离并被电离的离子先经过所述离子迁移谱仪内的离子迁移谱分析器被分离,再进入所述碰撞腔并发生碰撞解离,再进入所述质谱仪内的质量分析器进行质谱分析。
14.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述解卷积算法为皮尔森相关系数算法、交叉关联评分算法、聚类算法、最小熵算法、点积评分算法、及最小生成树算法中的一种或多种算法组合。
15.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述数据后处理还包括:对质谱图进行电荷数目解卷积,以确定质谱峰对应的电荷数目。
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