[发明专利]基于光电探测器和CCD相机的光纤激光光束质量测量方法有效

专利信息
申请号: 201610215402.2 申请日: 2016-04-08
公开(公告)号: CN105784334B 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 支冬;陶汝茂;马阎星;司磊;吴武明;王小林;陈子伦;周朴;许晓军;陈金宝;刘泽金 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 湖南省国防科技工业局专利中心 43102 代理人: 冯青
地址: 410073 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 基于 光电 探测器 ccd 相机 光纤 激光 光束 质量 测量方法
【权利要求书】:

1.基于光电探测器和CCD相机的光纤激光光束质量测量方法,利用M2因子测量仪评价大尺寸光纤激光光束质量,对被测光束进行光束质量测量,搭建测量光路,其特征在于,首先将被测光束(1)的光轴调水平,在光路中放入分光镜(2),将被测光束分成反射光束(3)及透射光束(4)两部分,分别用于测量光束的近场与远场,

对于光束近场的测量,利用放置于带有螺旋测微器的三维调节台(5)上的光电探测器(6)进行测量,

对于光束远场的测量,采用聚焦透镜(8)将透射光束(4)聚焦到透镜焦点位置处,即光束远场,并用CCD相机(9)对聚焦光斑成像,通过电脑(10)对成像光斑进行显示和数据采集,

通过对被测光束近场、远场的测量及数据分析,即计算得出光束近场宽度ωx和ωy,远场宽度ωx-far和ωy-far,进而计算得出相应方向上的光束质量和

所述光电探测器(6)将探测到的光强信息转换成电压信息,通过示波器(7)实时显示出来,光电探测器(6)对同一波长的光的响应是线性的,因此示波器(7)显示的电压值等效为光强值,通过调节带有螺旋测微器的三维调节台(5)的X方向上的螺旋测微器,将光电探测器放置于被测光束沿通过光束中心的X方向的不同位置,进而测量得到不同位置的光强对应的电压值,取点间隔保持固定,取点个数保证最小光强值小于最大光强值的10%,对多点测量得到的电压值做高斯函数拟合,根据拟合函数得出光束近场宽度ωx,Y方向的测量步骤与X方向相同。

2.根据权利要求1所述的基于光电探测器和CCD相机的光纤激光光束质量测量方法,其特征在于,M2因子的计算过程如下:

M2因子定义式为:

上式中,ω为实际光束的束腰宽度,θ为实际光束的远场发散角,ω0、θ0分别为理想光束的束腰宽度和远场发散角,且满足:

其中λ为光波长,将(2)式带入M2因子的定义式可得:

ωx、ωy分别为实际光束x、y方向上的束腰宽度;θx、θy分别为实际光束x、y方向上的远场发散角,因此对光束的M2因子测量便转换为对光束的近场尺寸ωx、ωy以及远场发散角θx、θy的测量,

用1/e2定义对近场光束宽度进行测量,即得到近场尺寸ωx和ωy

对远场的光束宽度计算采用二阶矩的定义公式,如(5)、(6)两式所示,

上面公式中Ifar(x,y)为CCD相机探测到的远场光强分布,计算得出远场光斑在x、y方向上的光束宽度ωx-far和ωy-far之后,利用公式(8)、(9),即计算得出光束的远场发散角θx和θy,式中f为聚焦透镜的焦距,

将(8)、(9)两式分别代入(3)、(4)两式,即得相应方向上的光束质量和为:

利用(5)~(7)和(10)~(11)式即可计算得出相应方向上的光束质量和

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